[发明专利]显示装置以及该显示装置的线缺陷的检测方法有效

专利信息
申请号: 201210586854.3 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103680395A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 尹淳逸;吴彰浩;李宁熙 申请(专利权)人: 乐金显示有限公司
主分类号: G09G3/32 分类号: G09G3/32;G09G3/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 吕俊刚;刘久亮
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 显示装置 以及 缺陷 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种显示装置,更具体地,涉及能够防止驱动电力(drive power)传输线中的缺陷并能防止这种缺陷对公共电极造成损害的一种显示装置以及该显示装置的线缺陷的检测方法。

背景技术

显示装置,特别是发光二极管显示装置使用来自驱动电力传输线的驱动电力来激活像素中的发光元件。此类驱动电力通过多条驱动电力传输线被供应到所有像素。然而,由于外来物质或其他原因,在部分驱动电力传输线中可能会出现缺陷。示例性的缺陷包括由部分驱动电力传输线的损伤和开路造成的开路缺陷以及由相邻的驱动电力传输线之间的短路造成的短路缺陷。

如果出现此种缺陷,则电流可能会集中于驱动电力传输线被共同连接到的公共电极,这可能造成诸如烧坏公共电极的极大的损害。

发明内容

因此,本发明致力于一种显示装置以及该显示装置中的线缺陷的检测方法,其基本上消除了由于现有技术的限制和缺点而导致的一个或多个问题。

本发明的目的在于提供通过缺陷检测线能够提前检测到驱动电力传输线的缺陷的一种显示装置以及该显示装置的线缺陷的检测方法。

本发明的另外的优点、目的和特征将在以下描述中部分地阐述,并且对于本领域技术人员在研读下文后将部分地变得明显,或者可以从本发明的实践获知。可通过在所撰写的说明书及其权利要求以及附图中具体指出的结构来实现和获得本发明的目的和其它优点。

为了实现这些目的和其他优点并根据本发明的目的,如在此具体实施并广泛描述的,一种显示装置包括:多条驱动电力传输线,所述多条驱动电力传输线用于向像素传送驱动电力;至少一条缺陷检测线,所述至少一条缺陷检测线与至少一条驱动电力传输线交叉;以及缺陷检测器,所述缺陷检测器用于向所述至少一条缺陷检测线输出缺陷检测信号,根据所述缺陷检测信号收集从缺陷检测线生成的反馈信号,并且基于所述缺陷检测信号与所述反馈信号之间的比较来确定是否在所述至少一条驱动电力传输线中存在缺陷。

优选地,所述至少一条缺陷检测线的数量为1并且所述缺陷检测线与所有的所述多条驱动电力传输线交叉。

优选地,所述显示装置还包括公共电极,所述公共电极连接到所述至少一条驱动电力传输线的一端,其中,所述缺陷检测线位于像素所存在的像素区域与所述公共电极之间。

优选地,所述显示装置还包括至少一个传导膜,其中,通过所述至少一个传导膜向所述缺陷检测线提供所述缺陷检测信号,并且通过所述至少一个传导膜向所述缺陷检测器提供所述反馈信号。

优选地,所述至少一个传导膜包括两个或更多个传导膜,所述缺陷检测器通过所述缺陷检测器的输出端输出所述缺陷检测信号,并且通过所述缺陷检测器的输入端收集所述反馈信号,所述缺陷检测线的一端通过一个传导膜连接到所述缺陷检测器的输出端,并且所述缺陷检测线的另一端通过另一个传导膜连接到所述缺陷检测器的输入端。

优选地,沿所述缺陷检测线的纵向方向布置传导膜,并且在传导膜中彼此相距最远的传导膜分别是所述一个传导膜和所述另一个传导膜。

优选地,在至少一个传导膜中嵌入用于向像素提供数据信号的数据集成电路,并且未在其中嵌入所述数据集成电路的传导膜分别是所述一个传导膜和所述另一个传导膜。

优选地,所述显示装置还包括:第一连接线,所述缺陷检测线的一端与所述一个传导膜通过所述第一连接线相互连接;以及第二连接线,所述缺陷检测线的另一端与所述另一个传导膜通过所述第二连接线相互连接,其中,所述第一连接线和所述第二连接线形成在同一层中,并且所述第一连接线和所述缺陷检测线形成在不同的层中。

优选地,所述至少一条缺陷检测线的数量为2,所述两条缺陷检测线是第一缺陷检测线和第二缺陷检测线,所述第一缺陷检测线和所述第二缺陷检测线与所有的所述多条驱动电力传输线交叉,并且所述第一缺陷检测线和所述第二缺陷检测线位于所述多条驱动电力传输线的不同部分。

优选地,所述显示装置还包括:第一公共电极,所述第一公共电极连接到所述驱动电力传输线的一端;以及第二公共电极,所述第二公共电极连接到所述驱动电力传输线的另一端,其中,所述第一缺陷检测线位于像素所存在的像素区域与所述第一公共电极之间,并且所述第二缺陷检测线位于所述像素区域与所述第二公共电极之间。

优选地,所述显示装置还包括至少一个传导膜,其中,通过所述至少一个传导膜向所述第一缺陷检测线和所述第二缺陷检测线提供缺陷检测信号,通过所述至少一个传导膜向所述缺陷检测器提供来自所述第一缺陷检测线的反馈信号,以及通过所述至少一个传导膜向所述缺陷检测器提供来自所述第二缺陷检测线的反馈信号。

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