[发明专利]一种薄膜晶体管生长工艺无效

专利信息
申请号: 201210595740.5 申请日: 2012-12-17
公开(公告)号: CN103066129A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 纪成友;贾道峰 申请(专利权)人: 青岛红星化工集团自力实业公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/363
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266000 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 生长 工艺
【权利要求书】:

1.一种IGBZO TFT生长工艺,其特征在于

该IGBZO生长工艺包括:

腐蚀ITO玻璃;

生长IGBZO复合层结构

其中,IGBZO复合层TFT器件后期制备流程如下:

刻蚀Al;

湿法腐蚀IGBZO。

2.如权利要求1所述的IGBZO TFT生长工艺,其特征在于,上述腐蚀ITO玻璃包括使用腐蚀液HNO3∶H20∶HCI=1∶2∶3,水浴50℃1分钟。

3.如权利要求1所述的IGBZO TFT生长工艺,其特征在于,

上述生长IGBZO复合层结构包括采用物理蒸发低温沉积(PELD)系统蒸发氧化物ZnO和BaO,在ITO玻璃衬底上连续沉积生长IGBZO和C-IGBZO复合层薄膜。

4.如权利要求1所述的IGBZO TFT生长工艺,其特征在于,

上述湿法腐蚀IGBZO包括采用H3PO4∶H2O配比的溶液水浴60℃湿法腐蚀IGBZO。

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