[发明专利]一种薄膜晶体管生长工艺无效
申请号: | 201210595740.5 | 申请日: | 2012-12-17 |
公开(公告)号: | CN103066129A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 纪成友;贾道峰 | 申请(专利权)人: | 青岛红星化工集团自力实业公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/363 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 266000 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜晶体管 生长 工艺 | ||
1.一种IGBZO TFT生长工艺,其特征在于
该IGBZO生长工艺包括:
腐蚀ITO玻璃;
生长IGBZO复合层结构
其中,IGBZO复合层TFT器件后期制备流程如下:
刻蚀Al;
湿法腐蚀IGBZO。
2.如权利要求1所述的IGBZO TFT生长工艺,其特征在于,上述腐蚀ITO玻璃包括使用腐蚀液HNO3∶H20∶HCI=1∶2∶3,水浴50℃1分钟。
3.如权利要求1所述的IGBZO TFT生长工艺,其特征在于,
上述生长IGBZO复合层结构包括采用物理蒸发低温沉积(PELD)系统蒸发氧化物ZnO和BaO,在ITO玻璃衬底上连续沉积生长IGBZO和C-IGBZO复合层薄膜。
4.如权利要求1所述的IGBZO TFT生长工艺,其特征在于,
上述湿法腐蚀IGBZO包括采用H3PO4∶H2O配比的溶液水浴60℃湿法腐蚀IGBZO。
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