[发明专利]显微镜检验用试样的制备方法及检查试样覆盖质量的装置

权利要求书

1.一种其上盖有玻璃盖玻片的显微镜检验用试样的制备方法，其中，所述制备方法在覆盖机中执行，所述方法包括：

自动地且至少部分地在暗场照明下光学地检查玻璃盖玻片在试样上的覆盖质量；

使用所述覆盖机检查所述试样的着色质量；

为了检查，生成盖玻片的至少一幅图像；

通过分析装置来自动地分析所述图像，从而使用所述分析装置自动地识别有缺陷的被覆盖的试样；以及

基于所述分析装置的结果，重新覆盖有缺陷的被覆盖的试样，以使得向后续的实验室过程提供无缺陷覆盖的试样。

2.根据权利要求1的方法，其特征在于，进行关于如下的检查，即

a. 在覆盖操作之后盖玻片是否被损坏，和/或

b. 在覆盖操作之后盖玻片是否存在裂缝，和/或

c. 在盖玻片中是否存在气体包含物，和/或

d. 在盖玻片和试样之间是否存在气体包含物，和/或

e. 是否存在盖玻片表面不规则。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，为了检查，生成盖玻片的至少一幅显微图像。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，灰度图像作为图像被生成。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，包括如下步骤中的至少一种：

a. 在图像生成的情况下照亮盖玻片和/或嵌入介质；

b. 在明场照明下生成图像；

c. 在暗场照明下生成图像。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，通过具有数据处理装置的分析装置自动地分析图像。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

在明场照明下和暗场照明下生成图像，且将这些图像互相进行比较。

8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，图像获取角和/或照明角度是可调节的。

9.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在检查覆盖质量之前，人工地或自动地测量参考图像的平均亮度和/或亮度分布。

10.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在检查覆盖质量之前，人工地或自动地测量没有试样的被覆盖的载玻片的平均亮度和/或亮度分布。

11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，

由所测量的平均亮度和亮度分布计算用于生成图像的曝光时间。

12.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，基于测得的亮度和/或亮度分布来为每个图像实施对所述图像的校正。

13.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，基于测得的亮度和/或亮度分布来为每个图像实施对所述图像的明暗校正。

14.根据权利要求1到11之一所述的方法，其特征在于，

a. 生成总图像；和/或

b. 读出试样特征码。

15.根据权利要求1到11之一所述的方法，其特征在于，

a. 生成总图像；和/或

b. 读出附连于载玻片或盖玻片的条形码。

16.根据权利要求1到2之一所述的方法，其特征在于，

a. 在不同条件下按时间顺序依次检查相同的覆盖结果。

17.根据权利要求1到2之一所述的方法，其特征在于，

a. 检查试样的着色质量和/或色彩强度。