[实用新型]用于老化测试装置的泛用型导轨结构有效
申请号: | 201220084791.7 | 申请日: | 2012-03-08 |
公开(公告)号: | CN202583248U | 公开(公告)日: | 2012-12-05 |
发明(设计)人: | 刘大纲;柳彦章 | 申请(专利权)人: | 京元电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 老化 测试 装置 泛用型 导轨 结构 | ||
1.一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于其包含:
一主体;
一上固定部,由该主体上端延伸而出,用以防止老化测试板与支撑板向上跳动;以及
一下固定部,由该主体下端延伸而出,用以支撑老化测试板与支撑板;
其中,该上固定部最前端形成一缺口,用以取放老化测试板与支撑板,且该主体、该上固定部、以及该下固定部连结形成一ㄈ字形的凹槽,用以在老化测试装置中支撑与取放老化测试板及支撑板。
2.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该上固定部内侧表面为一斜面。
3.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该上固定部内侧表面上设有一软质耐磨层。
4.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该下固定部内侧表面为一斜面。
5.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该下固定部内侧表面上设有一软质耐磨层。
6.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该主体的内侧表面设置有一软质耐磨层。
7.根据权利要求6所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该软质耐磨层内侧表面为一斜面。
8.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于其更包含一硬质氧化层包覆于该主体的表面、该上固定部的表面、以及该下固定部的表面上。
9.根据权利要求8所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于其更包含一软质耐磨层,包覆于该硬质氧化层的表面上。
10.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该缺口的边缘为一斜面。
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