[实用新型]用于老化测试装置的泛用型导轨结构有效

专利信息
申请号: 201220084791.7 申请日: 2012-03-08
公开(公告)号: CN202583248U 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 刘大纲;柳彦章 申请(专利权)人: 京元电子股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 老化 测试 装置 泛用型 导轨 结构
【权利要求书】:

1.一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于其包含:

一主体;

一上固定部,由该主体上端延伸而出,用以防止老化测试板与支撑板向上跳动;以及

一下固定部,由该主体下端延伸而出,用以支撑老化测试板与支撑板;

其中,该上固定部最前端形成一缺口,用以取放老化测试板与支撑板,且该主体、该上固定部、以及该下固定部连结形成一ㄈ字形的凹槽,用以在老化测试装置中支撑与取放老化测试板及支撑板。

2.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该上固定部内侧表面为一斜面。

3.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该上固定部内侧表面上设有一软质耐磨层。

4.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该下固定部内侧表面为一斜面。

5.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该下固定部内侧表面上设有一软质耐磨层。

6.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该主体的内侧表面设置有一软质耐磨层。

7.根据权利要求6所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该软质耐磨层内侧表面为一斜面。

8.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于其更包含一硬质氧化层包覆于该主体的表面、该上固定部的表面、以及该下固定部的表面上。

9.根据权利要求8所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于其更包含一软质耐磨层,包覆于该硬质氧化层的表面上。

10.根据权利要求1所述的用于老化测试装置的泛用型导轨结构,其特征在于该缺口的边缘为一斜面。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京元电子股份有限公司,未经京元电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220084791.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top