[实用新型]一种光电探测器、光电集成电路及光通信系统有效

专利信息
申请号: 201220106311.2 申请日: 2012-03-20
公开(公告)号: CN202513189U 公开(公告)日: 2012-10-31
发明(设计)人: 周志文;叶剑锋;张卫丰 申请(专利权)人: 深圳信息职业技术学院
主分类号: H01L31/112 分类号: H01L31/112;H01L27/144
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 陈世洪
地址: 518029 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 光电 探测器 集成电路 光通信 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型属于光电技术领域,尤其涉及一种光电探测器、光电集成电路及光通信系统。

背景技术

光电探测器是光通信、光互连和光电集成技术中关键的光电器件之一。信息技术向超大容量信息传输、超高密度信息存储等方向飞速发展,要求光电探测器具有更小的尺寸和更高的响应度。然而由于材料吸收系数小,为了获得高的响应度,器件的尺寸通常比较大。

实用新型内容

本实用新型实施例的目的在于提供一种光电探测器,旨在解决现有光电探测器尺寸偏大、响应度偏低的问题。

本实用新型实施例是这样实现的,一种光电探测器,其由场效应晶体管改制而成,包括衬底、于所述衬底边角处形成的源区和漏区、于所述衬底表面形成的栅区以及于所述源区和漏区表面形成的电极,所述栅区作为入射光的吸收区。

本实用新型实施例的另一目的在于提供一种光电集成电路,所述光电集成电路采用上述光电探测器。

本实用新型实施例的另一目的在于提供一种光通信系统,所述光通信系统包括上述光电探测器。

本实用新型实施例将场效应晶体管的栅区作为入射光的吸收区,将所述场效应晶体管的源极和漏极作为光电探测器的电极,从而将场效应晶体管改制成光电探测器。所述栅区吸收入射光时,于所述场效应晶体管的源区与漏区之间形成导电沟道,使所述场效应晶体管导通,于所述场效应晶体管的源极与漏极间产生光电流。由于场效应晶体管尺寸较小,具有内在增益,使其响应度较高,因而基于场效应晶体管结构的光电探测器尺寸较小,响应度较高,适用于各种光电集成电路及光通信系统。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的光电探测器的结构示意图;

图2是本实用新型实施例提供的另一光电探测器的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。

本实用新型实施例将场效应晶体管的栅区作为入射光的吸收区,将所述场效应晶体管的源极和漏极作为光电探测器的电极,从而将场效应晶体管改制成光电探测器。所述栅区吸收入射光时,于所述场效应晶体管的源区与漏区之间形成导电沟道,使所述场效应晶体管导通,于所述场效应晶体管的源极与漏极间产生光电流。由于场效应晶体管尺寸较小,具有内在增益,使其响应度较高,因而基于场效应晶体管结构的光电探测器尺寸较小,响应度较高,适用于各种光电集成电路及光通信系统。

以下结合具体实施例对本实用新型的实现进行详细描述。

如图1、2所示,本实用新型实施例提供的光电探测器由场效应晶体管改制而成,将所述场效应晶体管的栅区30作为入射光的吸收区,将所述场效应晶体管的源极和漏极作为所述光电探测器的电极。所述栅区30吸收入射光时,于所述场效应晶体管的源区21与漏区22间形成导电沟道40,使所述场效应晶体管导通,于所述场效应晶体管的源极与漏极间产生光电流。由于场效应晶体管尺寸较小,具有内在增益,使其响应度较高,因而基于该场效应晶体管结构的光电探测器尺寸较小,响应度较高。

通常,所述场效应晶体管的栅区30及衬底由不同半导体材料制成,制作所述栅区30的材料的禁带宽度较所述衬底的小,且两者的价带带阶大于导带带阶。入射光照射至所述栅区30使其产生电子-空穴对,由于所述栅区30与衬底的价带带阶大而导带带阶小,所述栅区30内的电子自由地移至衬底,而空穴被限制在所述栅区30内并集中在栅区30的底部。因空穴带正电荷,吸引电子堆积在衬底表面,在衬底内形成导通源区21与漏区22的导电沟道40,这样大量电子从源区21移至漏区22,在电极上产生较大的光电流。入射光未照射至栅区30时,导电沟道40未能形成,源区21与漏区22间无法导通,电极上的暗电流很微弱。

上述衬底优选为Si衬底或SOI衬底,制作所述栅区30的材料优选为Ge。其中,SOI衬底14包括自下而上依次叠置的底层支撑层Si 11、埋层二氧化硅(SiO2)12以及顶层Si 13。于顶层Si 13的边角处形成源区21和漏区22,于衬底表面上形成栅区30,栅区30的材料为另一种半导体(如Ge),于源区21和漏区22表面上分别形成金属电极51、52。入射光60水平照射至栅区30,栅区30吸收入射光60后,产生电子-空穴对,在顶层Si 13内形成导电沟道40,该导电沟道40导通源区21与漏区22,产生光电流,如图1所示。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳信息职业技术学院,未经深圳信息职业技术学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220106311.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top