[实用新型]一种光电探测器、光电集成电路及光通信系统有效
申请号: | 201220106311.2 | 申请日: | 2012-03-20 |
公开(公告)号: | CN202513189U | 公开(公告)日: | 2012-10-31 |
发明(设计)人: | 周志文;叶剑锋;张卫丰 | 申请(专利权)人: | 深圳信息职业技术学院 |
主分类号: | H01L31/112 | 分类号: | H01L31/112;H01L27/144 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 陈世洪 |
地址: | 518029 广东省深圳市龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 探测器 集成电路 光通信 系统 | ||
技术领域
本实用新型属于光电技术领域,尤其涉及一种光电探测器、光电集成电路及光通信系统。
背景技术
光电探测器是光通信、光互连和光电集成技术中关键的光电器件之一。信息技术向超大容量信息传输、超高密度信息存储等方向飞速发展,要求光电探测器具有更小的尺寸和更高的响应度。然而由于材料吸收系数小,为了获得高的响应度,器件的尺寸通常比较大。
实用新型内容
本实用新型实施例的目的在于提供一种光电探测器,旨在解决现有光电探测器尺寸偏大、响应度偏低的问题。
本实用新型实施例是这样实现的,一种光电探测器,其由场效应晶体管改制而成,包括衬底、于所述衬底边角处形成的源区和漏区、于所述衬底表面形成的栅区以及于所述源区和漏区表面形成的电极,所述栅区作为入射光的吸收区。
本实用新型实施例的另一目的在于提供一种光电集成电路,所述光电集成电路采用上述光电探测器。
本实用新型实施例的另一目的在于提供一种光通信系统,所述光通信系统包括上述光电探测器。
本实用新型实施例将场效应晶体管的栅区作为入射光的吸收区,将所述场效应晶体管的源极和漏极作为光电探测器的电极,从而将场效应晶体管改制成光电探测器。所述栅区吸收入射光时,于所述场效应晶体管的源区与漏区之间形成导电沟道,使所述场效应晶体管导通,于所述场效应晶体管的源极与漏极间产生光电流。由于场效应晶体管尺寸较小,具有内在增益,使其响应度较高,因而基于场效应晶体管结构的光电探测器尺寸较小,响应度较高,适用于各种光电集成电路及光通信系统。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的光电探测器的结构示意图;
图2是本实用新型实施例提供的另一光电探测器的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
本实用新型实施例将场效应晶体管的栅区作为入射光的吸收区,将所述场效应晶体管的源极和漏极作为光电探测器的电极,从而将场效应晶体管改制成光电探测器。所述栅区吸收入射光时,于所述场效应晶体管的源区与漏区之间形成导电沟道,使所述场效应晶体管导通,于所述场效应晶体管的源极与漏极间产生光电流。由于场效应晶体管尺寸较小,具有内在增益,使其响应度较高,因而基于场效应晶体管结构的光电探测器尺寸较小,响应度较高,适用于各种光电集成电路及光通信系统。
以下结合具体实施例对本实用新型的实现进行详细描述。
如图1、2所示,本实用新型实施例提供的光电探测器由场效应晶体管改制而成,将所述场效应晶体管的栅区30作为入射光的吸收区,将所述场效应晶体管的源极和漏极作为所述光电探测器的电极。所述栅区30吸收入射光时,于所述场效应晶体管的源区21与漏区22间形成导电沟道40,使所述场效应晶体管导通,于所述场效应晶体管的源极与漏极间产生光电流。由于场效应晶体管尺寸较小,具有内在增益,使其响应度较高,因而基于该场效应晶体管结构的光电探测器尺寸较小,响应度较高。
通常,所述场效应晶体管的栅区30及衬底由不同半导体材料制成,制作所述栅区30的材料的禁带宽度较所述衬底的小,且两者的价带带阶大于导带带阶。入射光照射至所述栅区30使其产生电子-空穴对,由于所述栅区30与衬底的价带带阶大而导带带阶小,所述栅区30内的电子自由地移至衬底,而空穴被限制在所述栅区30内并集中在栅区30的底部。因空穴带正电荷,吸引电子堆积在衬底表面,在衬底内形成导通源区21与漏区22的导电沟道40,这样大量电子从源区21移至漏区22,在电极上产生较大的光电流。入射光未照射至栅区30时,导电沟道40未能形成,源区21与漏区22间无法导通,电极上的暗电流很微弱。
上述衬底优选为Si衬底或SOI衬底,制作所述栅区30的材料优选为Ge。其中,SOI衬底14包括自下而上依次叠置的底层支撑层Si 11、埋层二氧化硅(SiO2)12以及顶层Si 13。于顶层Si 13的边角处形成源区21和漏区22,于衬底表面上形成栅区30,栅区30的材料为另一种半导体(如Ge),于源区21和漏区22表面上分别形成金属电极51、52。入射光60水平照射至栅区30,栅区30吸收入射光60后,产生电子-空穴对,在顶层Si 13内形成导电沟道40,该导电沟道40导通源区21与漏区22,产生光电流,如图1所示。
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