[实用新型]一种单晶硅棒截断专用丈量装置有效

专利信息
申请号: 201220121783.5 申请日: 2012-03-28
公开(公告)号: CN202582429U 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 范靖;王建锁 申请(专利权)人: 阳光硅谷电子科技有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 广州知友专利商标代理有限公司 44104 代理人: 李海波;侯莉
地址: 065201 河北省廊坊市三河*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 单晶硅 截断 专用 丈量 装置
【权利要求书】:

1.一种单晶硅棒截断专用丈量装置,其特征在于:包括测量件,所述测量件是呈弧形的板体,所述测量件的弯曲弧度与所述单晶硅棒外表面的弯曲弧度相适应,所述测量件沿单晶硅棒的纵向延伸以使测量件可贴合在所述单晶硅棒的外表面上,所述测量件上具有对应于所需截断后单晶硅棒长度的标示结构,以便按照该标示结构将单晶硅棒的整体长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。

2.根据权利要求1所述的单晶硅棒截断专用丈量装置,其特征在于:在所述测量件上增设有至少一个便于取放的手柄,所述测量件与单晶硅棒相贴合的板面为内面,测量件的另一板面为外面,所述手柄位于所述测量件的外面上。

3.根据权利要求2所述的单晶硅棒截断专用丈量装置,其特征在于:所述测量件的长度等于所需截断后单晶硅棒的长度,所述标示结构即为所述测量件的两端边缘,以便按照所述测量件的两端边缘所在单晶硅棒上的位置将单晶硅棒的长度划分成所需截断后单晶硅棒的长度。

4.根据权利要求2所述的单晶硅棒截断专用丈量装置,其特征在于:所述测量件的长度大于所需截断后单晶硅棒的长度,且所述测量件上标示有等于所需截断后单晶硅棒长度的刻度,所述标示结构即为所述刻度,所述刻度位于测量件的外面两侧边沿上且沿所述测量件的长度方向延伸,以便按照该刻度对应于单晶硅棒上的位置将单晶硅棒的长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。

5.根据权利要求2~4任一所述的单晶硅棒截断专用丈量装置,其特征在于:所述手柄与测量件为一体制成。 

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