[实用新型]一种单晶硅棒截断专用丈量装置有效
申请号: | 201220121783.5 | 申请日: | 2012-03-28 |
公开(公告)号: | CN202582429U | 公开(公告)日: | 2012-12-05 |
发明(设计)人: | 范靖;王建锁 | 申请(专利权)人: | 阳光硅谷电子科技有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02 |
代理公司: | 广州知友专利商标代理有限公司 44104 | 代理人: | 李海波;侯莉 |
地址: | 065201 河北省廊坊市三河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 单晶硅 截断 专用 丈量 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种太阳能光伏行业单晶硅棒截断生产过程中所使用的辅助装置,特别涉及一种单晶硅棒截断专用丈量装置。
背景技术
目前,随着太阳能光伏行业的迅猛发展,导致作为主要原料的单晶硅棒的需求量大幅度增加,但是由于受到现有生产方法的限制,单晶硅棒的产量并不高。
具体而言,在进行单晶硅棒截断生产之前,需要对每根单晶硅棒的整体长度进行丈量,然后将其划分成固定等量的长度,但是,在划分时,很容易出现偏位或丈量标尺错位的现象,导致等量划分的难度很大,不仅费时费力,降低了加工效率,而且划分的准确度较低,会影响单晶硅棒的加工品质。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种结构简单、易于制作、可提高加工效率及品质、操作简便的单晶硅棒截断专用丈量装置。
本实用新型的目的通过以下的技术措施来实现:一种单晶硅棒截断专用丈量装置,其特征在于包括测量件,所述测量件是呈弧形的板体,所述测量件的弯曲弧度与所述单晶硅棒外表面的弯曲弧度相适应,所述测量件沿单晶硅棒的纵向延伸以使测量件可贴合在所述单晶硅棒的外表面上,所述测量件上具有对应于所需截断后单晶硅棒长度的标示结构,以便按照该标示结构将单晶硅棒的整体长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。
本实用新型的测量件是与单晶硅棒外表面的弯曲弧度相适应的弧形板体,它可贴合在所述单晶硅棒的外表面上而将单晶硅棒的整体长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度,不仅结构简单、操作简便且易于制作,而且可避免现有丈量方式所出现的偏位或丈量标尺错位的现象,大大提高加工效率及加工品质。
为了便于取放本实用新型,操作更为简便,作为本实用新型的一种改进,在所述测量件上增设有至少一个便于取放的手柄,所述测量件与单晶硅棒相贴合的板面为内面,测量件的另一板面为外面,所述手柄位于所述测量件的外面上。
作为本实用新型的一种实施方式,所述测量件的长度等于所需截断后单晶硅棒的长度,所述标示结构即为所述测量件的两端边缘,以便按照所述测量件的两端边缘所在单晶硅棒上的位置将单晶硅棒的长度划分成所需截断后单晶硅棒的长度。
作为本实用新型的另一种实施方式,所述测量件的长度大于所需截断后单晶硅棒的长度,且所述测量件上标示有等于所需截断后单晶硅棒长度的刻度,所述标示结构即为所述刻度,所述刻度位于测量件的外面两侧边沿上且沿所述测量件的长度方向延伸,以便按照该刻度对应单晶硅棒上的位置将单晶硅棒的长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。
本实用新型还具有以下实施方式,所述手柄与测量件为一体制成。
与现有技术相比,本实用新型具有如下显著的效果:
(1)本实用新型在测量时,测量件可贴合在单晶硅棒的表面上,避免现有丈量方式所产生的偏位或者丈量标尺错位的现象,大大降低了等量划分的难度,节约了时间,减少了人力,提高了加工的效率。
(2)由于本实用新型不会出现偏位或错位的现象,使得测量时划分的准确度较高,提高了单晶硅棒的加工品质。
(3)本实用新型的结构十分简单、易于制作且操作简便。
(4)本实用新型的实用性强,可广泛适用于对圆柱形产品进行等量截断加工的场合,尤其适用于对单晶硅棒进行截断的加工工序。
附图说明
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。
图1是本实用新型的俯视示意图;
图2是图1的X向视图;
图3是图1的Y向视图;
图4是本实用新型丈量单晶硅棒的结构示意图;
图5是图4的Z向视图。
具体实施方式
实施例1
如图1~5所示,是本实用新型一种单晶硅棒截断专用丈量装置,包括测量件1和设置在测量件1上的一个便于取放的手柄2,手柄2与测量件1为一体制成。测量件1是呈弧形的板体,测量件1的弯曲弧度与单晶硅棒3外表面的弯曲弧度相适应,测量件1沿单晶硅棒3的纵向延伸以使测量件1可贴合在单晶硅棒3的外表面上,测量件1上具有对应于所需截断后单晶硅棒长度的标示结构,以便按照该标示结构将单晶硅棒3的整体长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。测量件1与单晶硅棒3相贴合的板面为内面11,测量件1的另一板面为外面12,手柄2位于测量件1的外面12上。
在本实施例中,测量件1的长度等于所需截断后单晶硅棒的长度,标示结构即为测量件1的两端边缘,以便按照测量件1的两端边缘所在单晶硅棒3上的位置将单晶硅棒3的长度划分成所需截断后单晶硅棒的长度。
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