[实用新型]快速测量检测装置有效
| 申请号： | 201220248908.0 | 申请日： | 2012-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN202676065U | 公开（公告）日： | 2013-01-16 |
| 发明（设计）人： | 冷志红;蔡灵玲 | 申请（专利权）人： | 昆山明本光电有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215325 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 快速 测量 检测 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于低通滤波器晶片尺寸测量的快速测量检测装置，其特征在于：包括底座(1)和千分尺(7)，在所述底座(1)上设置有固定块(3)，在所述固定块(3)上开设有凹腔(31)，在凹腔(31)内设有定位块(5)和移动块(6)，所述移动块(6)可沿凹腔(31)内前后移动，所述定位块(5)和移动块(6)通过径向螺栓(4)连接固定，在所述固定块(3)的侧边设有横向螺栓(2)，该横向螺栓(2)穿过凹腔(31)；所述千分尺(7)固定在定位块(5)和移动块(6)之间，在所述千分尺(7)的头部卡设一定位挡块(8)，在所述定位挡块(8)上开设有凹槽(81)。
2.根据权利要求1所述的快速测量检测装置，其特征在于：所述底座(1)和固定块(3)是一体化注塑制得。
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