[实用新型]快速测量检测装置

说明书

技术领域：

本实用新型涉及一种用于低通滤波器晶片检测的快速测量检测装置。

背景技术：

目前，对于加工生产低通滤波器晶片时，用来测量其尺寸大小的器具是越来越多，并且能达到一定的精准度，但对于一般采用的检测器具是千分尺，在具体实施检测时，是需要人工进行检测的，这样的检测方法很容易由于人手的晃动导致检测不准，且，还需要人工一次次的对千分尺进行校准，很大程度影响了检测的效率。

发明内容：

本实用新型解决的技术问题是提供一种提高检测精度的准确度，并能实现快速定位检测，达到节省工时目的的快速测量检测装置。

本实用新型解决其技术问题所采取的技术方案是：一种用于低通滤波器晶片尺寸测量的快速测量检测装置，包括底座和千分尺，在所述底座上设置有固定块，在所述固定块上开设有凹腔，在凹腔内设有定位块和移动块，所述移动块可沿凹腔内前后移动，所述定位块和移动块通过径向螺栓连接固定，在所述固定块的侧边设有横向螺栓，该横向螺栓穿过凹腔；所述千分尺固定在定位块和移动块之间，在所述千分尺的头部卡设一定位挡块，在所述定位挡块上开设有凹槽。

进一步的，所述底座和固定块是一体化注塑制得。

本实用新型的有益效果是：本装置用于将千分尺固定在定位块和移动块之间，被检测的晶片放置在千分尺的伸出杆处，同时，被检测晶片的面贴合定位挡块的平面，保证其检测位置水平，提高了检测精度的准确度，方便人工快速的检测低通滤波器晶片的尺寸，大大提高了工作效率，达到节约工时的目的。

附图说明：

下面结合附图对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型结构的示意图；

图2是本实用新型中安装上千分尺的示意图；

图3是本实用新型在具体检测晶片时的工作示意图。

图中：1、底座  2、横向螺栓  3、固定块  31、凹腔  4、径向螺栓  5、定位块  6、移动快  7、千分尺  8、定位挡块  81、凹槽  9、晶片。

具体实施方式：

如图1所示一种用于低通滤波器晶片尺寸测量的快速测量检测装置，包括底座1和千分尺7，在所述底座1上设置有固定块3，在所述固定块3上开设有凹腔31，在凹腔31内设有定位块5和移动块6，所述移动块6可沿凹腔31内前后移动，所述定位块5和移动块6通过径向螺栓4连接固定，在所述固定块3的侧边设有横向螺栓2，该横向螺栓2穿过凹腔31；所述千分尺7固定在定位块5和移动块6之间，在所述千分尺7的头部卡设一定位挡块8，在所述定位挡块8上开设有凹槽81。

进一步的，所述底座1和固定块3是一体化注塑制得。

本装置用于将千分尺7固定在定位块5和移动块6之间，顺时针旋动径向螺栓4，实现移动块6与定位块5的径向固定，同时，横向螺栓2顺时针旋进，禁锢凹腔31对移动块6的包合力，避免移动块6左右晃动，此时将定位挡块8卡设在千分尺7的头部内，凹槽81正好包合住千分尺的伸出杆，定位挡块8的主要作用是保证晶片9检测时的水平度，被检测晶片9的面贴合定位挡块8的平面，保证其检测位置水平，提高了检测精度的准确度，方便人工快速的检测低通滤波器晶片的尺寸，大大提高了工作效率，达到节约工时的目的。

需要强调的是，以上是本实用新型的较佳实施列而已，并非对此实用新型在外观上作任何形式的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。