[实用新型]一种简易三极管特性测量系统

权利要求书

1.一种简易三极管特性测量系统，与待测三极管连接，其特征在于，该系统包括第一微控制器、第二微控制器、电压采样电路、数控电源、数控频率源、频率测量电路和显示输出电路，所述第一微控制器与数控电源连接，所述数控电源与待测三极管连接，待测三极管通过电压采样电路再与第一微控制器连接，第一微控制器与所述显示输出电路连接；所述第二微控制器与数控频率源连接，所述数控频率源通过频率测量电路与待测三极管连接，所述频率测量电路通过第二微控制器与显示输出电路连接。

2.根据权利要求1所述的简易三极管特性测量系统，其特征在于，所述第一、第二微控制器均采用89S52单片机。

3.根据权利要求1所述的简易三极管特性测量系统，其特征在于，所述电压采样电路包括芯片ADC080、运放芯片OPA27和INA120。

4.根据权利要求1所述的简易三极管特性测量系统，其特征在于，数控电源包括数控电流源和数控电压源，所述数控电流源采用D/A转换芯片DAC0832，所述数控电压源包括D/A转换芯片DAC0832和运放芯片OPA27。

5.根据权利要求1所述的简易三极管特性测量系统，其特征在于，所述显示输出电路为示波器。

6.根据权利要求1所述的简易三极管特性测量系统，其特征在于，所述数字频率源包括74LVT245B芯片和DDS芯片AD9852。