[实用新型]一种简易三极管特性测量系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种简易三极管特性测量系统。

背景技术

市场上存在多种三极管特性测量图示仪，用于观察及测量晶体管各种输入输出特性，其性能较好、精度较高，一般采用模拟电路制作，制作复杂，而且价格昂贵。部分小型的三极管特性图示仪采用数字电路制作，价格低廉，但测量精度较低，而且测量的参数种类较少，一般只能测量输出特性。因此需要一种制作相对简单且成本较低，使用也很方便，并且能够对包括频率特性的特性简易测量的三极管特性测量系统。

发明内容

本实用新型目的在于解决上述问题，提供了一种测量精度较高、测量参数较齐全，且成本较低的三极管特性测量系统。

本实用新型通过以下技术方案实现：

一种简易三极管特性测量系统，与待测三极管连接，该系统包括第一微控制器、第二微控制器、电压采样电路、数控电源、数控频率源、频率测量电路和显示输出电路，所述第一微控制器与数控电源连接，所述数控电源与待测三极管连接，待测三极管通过电压采样电路再与第一微控制器连接，第一微控制器与所述显示输出电路连接；所述第二微控制器与数控频率源连接，所述数控频率源通过频率测量电路与待测三极管连接，所述频率测量电路通过第二微控制器与显示输出电路连接。

所述的简易三极管特性测量系统，进一步设计在于，所述第一、第二微控制器均为89S52单片机。

所述的简易三极管特性测量系统，进一步设计在于，所述电压采样电路包括芯片ADC080、运放芯片OPA27和INA120。

所述的简易三极管特性测量系统，进一步设计在于，数控电源包括数控电流源和数控电压源，所述数控电流源为D/A转换芯片DAC0832，所述数控电压源包括D/A转换芯片DAC0832和运放芯片OPA27。

所述的简易三极管特性测量系统，进一步设计在于，所述显示输出电路为示波器。

所述的简易三极管特性测量系统，进一步设计在于，所述数字频率源包括74LVT245B芯片和DDS芯片AD9852。

本实用新型的有益效果在于：

本实用新型提供的三极管特性测量系统具有性能可靠、抗干扰能力强、功耗低、性价比高等优点，可应用于实验室、工厂对晶体三极管的质量性能检测。

附图说明

图1是本实用新型的系统框架图。

图2是本实用新型的数控频率源的系统框图。

图3是本实用新型的频率特性测试原理图。

具体实施方式

以下结合说明书附图以及具体实施例对本实用新型进行进一步说明。

如图1、图2所示，该系统包括第一微控制器、第二微控制器、电压采样电路、数控电源、数控频率源、频率测量电路和显示输出电路，第一微控制器与数控电源连接，数控电源与待测三极管连接，待测三极管通过电压采样电路再与第一微控制器连接，第一微控制器与显示输出电路连接；第二微控制器与数控频率源连接，数控频率源通过频率测量电路与待测三极管连接，频率测量电路通过第二微控制器与显示输出电路连接。第一、第二微控制器均为89S52单片机。电压采样电路包括芯片ADC080、运放芯片OPA27和INA120。

数控电源包括数控电流源和数控电压源，数控电流源为D/A转换芯片DAC0832，数控电压源包括D/A转换芯片DAC0832和运放芯片OPA27。显示输出电路为示波器。数字频率源包括74LVT245B芯片和DDS芯片AD9852。

简易三极管特性测量系统采用两片89S52单片机作为第一、第二微控制器，框架图如图1所示，测量输入特性测量时，先固定                                               为一定值，从0开始逐渐增大基极电流，A/D转换器通过测量电路来检测，将A/D转换的数据存储并处理后输出到显示电路。测量输出特性时，数控电流源在第一微控制器的控制下产生一定频率的阶梯电流，数控电压源在微控制器的控制下产生一定频率从0-20V的扫描电压，提取表征集电极电流的电压给示波器Y轴显示输出特性曲线。输入输出显示采用示波器直接显示，并行接口芯片8255A作为接口电路，实现测量信号的输入。