[实用新型]一种TFT阵列检测框架及检测设备有效
| 申请号： | 201220349362.8 | 申请日： | 2012-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN202736444U | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 裴晓光;林子锦;田震寰;赵海生;杨魏松 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人： | 程立民;张颖玲 |
| 地址： | 100176 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 tft 阵列 检测 框架 设备 | ||
【权利要求书】：
1.一种TFT阵列检测框架，其特征在于，包括：主框架(9)、固定支架(10)、紧固件(11)、外部信号输入端子(12)、滑动杆(13)、弹性导电部件(14)；
在固定支架(10)上开有多个并列的调节孔(15)，紧固件(11)穿过调节孔(15)将主框架(9)和固定支架(10)连接在一起；
外部信号输入端子(12)的头部与弹性导电部件(14)接触，尾部与位于固定支架(10)上的滑动杆(13)连接；
弹性导电部件(14)固定在固定支架(10)内侧，由导电弹性导电部件和绝缘弹性导电部件相互间隔组成。
2.根据权利要求1所述的TFT阵列检测框架，其特征在于，多个外部信号输入端子(12)并列与滑动杆(13)垂直固定连接。
3.根据权利要求1所述的TFT阵列检测框架，其特征在于，固定支架(10)位于主框架(9)上方一边或多个边。
4.根据权利要求1所述TFT阵列检测框架，其特征在于，所述弹性导电部件由高性能硅橡胶为基料、配以填料和助剂形成。
5.根据权利要求4所述TFT阵列检测框架，其特征在于，所述填料为铜镀银、铝镀银、玻璃镀银或石墨镀镍颗粒。
6.根据权利要求1所述TFT阵列检测框架，其特征在于，每个阵列基板的信号输入端(2)最少对应两根弹性导电部件。
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