[实用新型]一种旋扣式电子芯片检测治具

权利要求书

1.一种旋扣式电子芯片检测治具，包括设置检测电路的治具底板(1)，其特征在于：所述治具底板(1)上设置检测电子芯片的芯片容置腔(11)，芯片容置腔(11)内设置连接检测电路并与电子芯片匹配设置的检测探针(2)，芯片容置腔(11)上方设置旋扣压板(3)，旋扣压板(3)、治具底板(1)间设置能将两者分拆或固定的旋扣装置(4)，旋扣压板(3)上设置旋压装置(5)，旋压装置(5)的底端连接压向电子芯片的芯片压块(6)。

2.根据权利要求1所述的一种旋扣式电子芯片检测治具，其特征在于：所述旋扣装置(4)包括设置在治具底板(1)上围绕芯片容置腔(11)设置两件或两件以上的旋挂柱(7)，旋挂柱(7)的顶端设置大头的挂扣(71)，旋扣压板(3)上设置与旋挂柱(7)配合的旋扣孔(31)，所述旋扣孔(31)包括大于挂扣(71)的贯通设置的穿入孔(311)，并设置与穿入孔(311)相接、上端较挂扣(71)尺寸稍大下底端较旋挂柱(7)柱体(72)尺寸稍大的锁扣孔(312)。

3.根据权利要求1所述的一种旋扣式电子芯片检测治具，其特征在于：所述治具底板(1)上设置的固定安装座(8)，旋扣装置(4)设置在固定安装座(8)与旋扣压板(3)间，所述芯片容置腔(11)设置在固定安装座(8)上。

4.根据权利要求1所述的一种旋扣式电子芯片检测治具，其特征在于：所述治具底板(1)设置固定检测探针(2)的针盘(21)。

5.根据权利要求1所述的一种旋扣式电子芯片检测治具，其特征在于：所述旋压装置(5)包括一设置旋钮(51)的螺柱(52)，螺柱(52)穿设过旋扣压板(3)上设置的与螺柱(52)配合的螺孔(32)，螺柱(52)的底端连接芯片压块(6)。

6.根据权利要求5所述的一种旋扣式电子芯片检测治具，其特征在于：所述螺柱(52)的底端设置推力轴承(9)连接芯片压块(6)。

7.根据权利要求1-6任意项所述的一种旋扣式电子芯片检测治具，其特征在于：所述芯片压块(6)上设置穿设在旋扣压板(3)上的行程导柱(10)。