[实用新型]一种测距系统有效

专利信息
申请号: 201220396403.9 申请日: 2012-08-06
公开(公告)号: CN202770994U 公开(公告)日: 2013-03-06
发明(设计)人: 侴智;李卫明;王红飞 申请(专利权)人: 深圳市迈测科技有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 陈世洪
地址: 518000 广东省深圳市宝安区桃*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测距 系统
【权利要求书】:

1.一种测距系统,包括用以发射测量光束的测量光发射装置以及用以接收反射回的测量光束并转化为测量信号的接收装置,其特征在于,所述测距系统还包括用以发射参考光束的参考光发射装置、将所述参考光束反射至接收装置的挡板以及控制所述测量光发射装置和参考光发射装置启闭的控制开关,所述接收装置系将反射回的参考光束转化为参考信号的接收装置。

2.如权利要求1所述的测距系统,其特征在于,所述测距系统进一步包括用以产生主振信号、本振信号、触发采样信号及开始采样信号的信号产生电路以及对所述测量信号和参考信号进行处理、以得出测量距离的信号处理电路,所述信号处理电路具有使本振信号与测量信号或参考信号混频的混频器;所述主振信号经调制器调制形成传送至测量光发射装置或参考光发射装置的调制信号,所述本振信号输入混频器与测量信号或参考信号混频后形成测量混频信号或参考混频信号。

3.如权利要求2所述的测距系统,其特征在于,所述信号产生电路包括用以产生基准信号并直接将所述基准信号作为开始采样信号的信号发生器,对多个基准信号进行倍频处理、以分别产生主振信号、本振信号和触发采样信号的第一倍频器、第二倍频器和第三倍频器以及分别对所述主振信号和本振信号进行整形滤波的第一整形滤波器和第二整形滤波器。

4.如权利要求2或3所述的测距系统,其特征在于,所述信号处理电路为用以接收本振信号、触发采样信号和开始采样信号,由触发采样信号触发并于所述开始采样信号的上升沿或下降沿开始对测量混频信号或参考混频信号进行采样的信号处理电路。

5.如权利要求4所述的测距系统,其特征在于,所述信号处理电路还具有输出控制信号给控制开关的微控制器以及依序对测量混频信号或参考混频信号进行处理的低通滤波器、放大器和AD转化模块,由所述AD转化模块接收信号发生电路输出的触发采样信号和开始采样信号。

6.如权利要求5所述的测距系统,其特征在于,所述述测量光发射装置和参考光发射装置均为具有自动功率控制模块的激光管,由所述微控制器输出功率控制信号给自动功率控制模块。

7.如权利要求2、3、5或6所述的测距系统,其特征在于,所述测量光发射装置输出端设对测量光束进行准直的发射物镜,所述接收装置输入端设汇聚测量光束的接收物镜。

8.如权利要求7所述的测距系统,其特征在于,所述挡板倾斜设置于参考光发射装置输出端,并将所述参考光束直接反射至接收装置。

9.如权利要求8所述的测距系统,其特征在于,所述混频器集成于接收装置。

10.如权利要求9所述的测距系统,其特征在于,所述接收装置为雪崩二极管。

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