[实用新型]一种测距系统有效
申请号: | 201220396403.9 | 申请日: | 2012-08-06 |
公开(公告)号: | CN202770994U | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | 侴智;李卫明;王红飞 | 申请(专利权)人: | 深圳市迈测科技有限公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 陈世洪 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区桃*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测距 系统 | ||
技术领域
本实用新型属于距离测量技术领域,尤其涉及一种测距系统。
背景技术
二十世纪八十年代以来,半导体激光器和数字电路取得长足发展。以之为基础的激光测距技术越来越广泛应用于电力、水利、通讯、环境、建筑、警务、消防、爆破、航海、铁路、军事反恐等领域。现有相位激光测距系统采用机械装置对测量光和参考光进行切换,测量精度较低。
实用新型内容
本实用新型实施例的目的在于提供一种测距系统,旨在解决现有测距系统测量精度低的问题。
本实用新型实施例是这样实现的,一种测距系统,包括用以发射测量光束至被测物的测量光发射装置以及用以接收经所述被测物反射回的测量光束并转化为测量信号的接收装置,所述测距系统还包括用以发射参考光束的参考光发射装置、将所述参考光束反射至接收装置的挡板以及控制所述测量光发射装置和参考光发射装置启闭的控制开关,所述接收装置系将反射回的参考光束转化为参考信号的接收装置。
本实用新型实施例由测量光发射装置发射测量光束至被测物,由接收装置接收经所述被测物反射回的测量光束并将其转化为测量信号,此测量信号经处理得出测量相位。接着关闭测量光发射装置,开启参考光发射装置,由参考光发射装置发射参考光束至挡板,由所述接收装置接收经挡板发射回的参考光束并将其转化为参考信号,此参考信号经处理得出参考相位。由此算出测量相位与参考相位间的相位差ΔΦ,最终由公式D=C*T/2=C*ΔΦ/(2*2π*nf)算出被测距离。在此采用双发单收的相位测量模式,无需采用机械装置对测量光和参考光进行切换,精度极高。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的测距系统的结构示意图;
图2是信号产生电路的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
本实用新型实施例由测量光发射装置发射测量光束至被测物,由接收装置接收经所述被测物反射回的测量光束并将其转化为测量信号,此测量信号经处理得出测量相位。接着关闭测量光发射装置,开启参考光发射装置,由参考光发射装置发射参考光束至挡板,由所述接收装置接收经挡板发射回的参考光束并将其转化为参考信号,此参考信号经处理得出参考相位。由此算出测量相位与参考相位间的相位差ΔΦ,最终由公式D=C*T/2=C*ΔΦ/(2*2π*nf)算出被测距离。在此采用双发单收的相位测量模式,无需采用机械装置对测量光和参考光进行切换,精度极高。
以下结合具体实施例对本实用新型的实现进行详细描述。
如图1、2所示,本实用新型实施例提供的测距系统包括用以发射测量光束至被测物的测量光发射装置1,用以接收经所述被测物反射回的测量光束并转化为测量信号的接收装置2,用以发射参考光束的参考光发射装置3、将所述参考光束反射至接收装置的挡板4以及控制所述测量光发射装置1和参考光发射装置3启闭的控制开关5;其中,所述接收装置2系将反射回的参考光束转化为参考信号的接收装置。此处由测量光发射装置1发射测量光束至被测物,由接收装置2接收经所述被测物反射回的测量光束并将其转化为测量信号,此测量信号经处理得出测量相位。接着关闭测量光发射装置1,开启参考光发射装置3,由参考光发射装置3发射参考光束至挡板4,由所述接收装置2接收经挡板4发射回的参考光束并将其转化为参考信号,此参考信号经处理得出参考相位。由此算出测量相位与参考相位间的相位差ΔΦ,最终由公式D=C*T/2=C*ΔΦ/(2*2π*nf)算出被测距离。在此采用双发单收的相位测量模式,无需采用机械装置对测量光和参考光进行切换,精度极高。同时,无需将一个发射装置发射出的光分为测量光束及参考光束,使得本测距系统结构简单。此外,由电子控制开关5控制所述测量光发射装置1与参考光发射装置3启闭,两者间切换时间短,为毫秒量级,可认为电路切换期间周围环境不变,电路未受影响,不影响测量精度。因采用同一接收装置2接收测量光束及参考光束,降低了成本。
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