[实用新型]用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统有效

专利信息
申请号: 201220428893.6 申请日: 2012-08-27
公开(公告)号: CN202794349U 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 沈涛;黄建领;姚利军 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 张文祎
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 校准 电磁 场场 均匀 系统
【权利要求书】:

1.用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,其特征在于,该系统包括支架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4),所述支架(1)包括底座(11)、角度调节装置(12)和测试杆(13),所述第一探头(3)和所述第二探头(4)分别固定于所述测试杆(13)的中间和自由端位置,且所述第一探头(3)和所述第二探头(4)与所述示波器(2)电连接;

所述底座(11)包括两个支撑臂(111)和固定盘(114),所述两个支撑臂(111)互成90度角与所述固定盘(114)固接,每个所述支撑臂(111)靠近所述固定盘(114)的一端设有凸起(112),所述固定盘(114)的中心设有转轴(115);

所述角度调节装置(12)安装在所述转轴(115)上且能够绕所述转轴(115)转动,所述角度调节装置(12)的一端与所述测试杆(13)的一端连接。

2.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,其特征在于,所述角度调节装置(12)包括圆拱形内衬(121)和圆拱形外衬(122);所述内衬(121)的中心设有与所述转轴(115)配合的轴承(1214),所述内衬(121)通过所述轴承(1214)安装在所述转轴(115)上,所述内衬(121)所在的平面与所述固定盘(114)所在的平面互相垂直,且所述内衬(121)能够绕所述转轴(115)转动,所述内衬(121)设有圆拱形的凹槽(1211),所述凹槽(1211)内设有圆拱形的滑动条(1212)且所述滑动条(1212)能够沿所述凹槽(1211)滑动,所述滑动条(1212)上设有多个定位孔(1213);所述外衬(122)上设有多个与所述定位孔(1213)配合的连接孔(1221),所述外衬(122)通过所述定位孔(1213)和所述连接孔(1221)与所述内衬(121)固接,所述外衬(122)的一端与所述测试杆(13)的一端固接。

3.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,其特征在于,所述底座(11)进一步包括设置于所述两个支撑臂(111)的夹角内的连接架(116)。

4.根据权利要求3所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,其特征在于,所述底座(11)进一步包括设置于所述连接架(116)上且位于所述角度调节装置(12)与所述测试杆(13)连接处的下方的定位装置(113)。

5.根据权利要求4所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,其特征在于,所述定位装置(113)能够通过调节所述角度调节装置(12)与所述测试杆(13)连接处的高度来调节所述测试杆(13)与所述固定盘(114)所在平面之间的夹角。

6.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,其特征在于,所述角度调节装置(12)能够调节所述测试杆(13)与所述固定盘(114)所在平面之间的夹角在35.26°-45°范围内变化。

7.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,其特征在于,所述测试杆(13)的中间和自由端分别设有探头固定装置(132)。

8.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,其特征在于,所述测试杆(13)上设有长度调节装置(131),通过所述长度调节装置(131)能够调节所述测试杆(13)的长度。

9.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,其特征在于,所述支撑臂(111)的长度可调。

10.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,其特征在于,所述第一探头(3)和所述第二探头(4)与所述示波器(2)通过光纤连接。

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