[实用新型]用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及电磁场的场均匀性的校准技术领域，特别涉及一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统。

背景技术

对于射频电磁场，IEC61000系列标准给出了两种电磁场的场均匀性的校准方法，即恒定场强校准法和恒定功率校准法。恒定场强校准法是通过调整前向输出功率建立一个场强恒定的均匀场，然后用一个经校准的场强探头以指定的步长在每个频段对待测区域内的各个点进行测量。恒定功率校准法与之不同的是测量时保持前向输出功率恒定。

对于瞬变电磁场，MIL-STD-461F标准采用了上述恒定场强校准法。但是，恒定场强校准法存在以下不足：

(1)瞬变电磁场由脉冲信号源触发的单脉冲信号产生，为了获得恒定的电磁场，需要反复调节脉冲信号源的输出功率，因此必须既可以准确监测所用脉冲信号源的输出功率，又可以对所用脉冲信号源的输出功率进行微调，对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求高；

(2)通常需要用高压探头监测脉冲信号源的输出功率，在实际应用中有时很难实现；

(3)校准时间较长，使用不方便。

对于瞬变电磁场，如果采用恒定功率校准法，也存在以下问题：

(1)需要脉冲信号源多次触发输出多个单脉冲信号，各个单脉冲信号的幅度很难完全保持一致，即存在脉冲信号源输出的各个单脉冲信号不稳定的问题，导致瞬变电磁场均匀性校准的准确度降低；

(2)对脉冲信号源输出稳定性的要求导致瞬变电磁场产生装置的成本较高。

用于校准瞬变电磁场的场均匀性的系统通常需要测试多个位置。校准瞬变电磁场的场均匀性时，不但需要支架支撑和固定测试探头，而且需要通过支架调节测试探头的位置和角度。具体地，校准瞬变电磁场的场均匀性时，通常需要通过调节支架来改变固定有探头的测试杆的角度和长度，甚至需要通过调节支架实现测试杆绕固定轴的转动。现有技术中的支架都不能直接实现上述功能，因此在用于校准瞬变电磁场的场均匀性时非常不便。

目前，非常需要一种对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置要求低、快速、准确且低成本的瞬变电磁场的场均匀性的校准系统。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统。

本实用新型提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统包括支架、示波器、第一探头和第二探头，所述支架包括底座、角度调节装置和测试杆，所述第一探头和所述第二探头分别固定于所述测试杆的中间和自由端位置，且所述第一探头和所述第二探头与所述示波器电连接；

所述底座包括两个支撑臂和固定盘，所述两个支撑臂互成90度角与所述固定盘固接，每个所述支撑臂靠近所述固定盘的一端设有凸起，所述固定盘的中心设有转轴；

所述角度调节装置安装在所述转轴上且能够绕所述转轴转动，所述角度调节装置的一端与所述测试杆的一端连接。

优选地，所述角度调节装置包括圆拱形内衬和圆拱形外衬；所述内衬的中心设有与所述转轴配合的轴承，所述内衬通过所述轴承安装在所述转轴上，所述内衬所在的平面与所述固定盘所在的平面互相垂直，且所述内衬能够绕所述转轴转动，所述内衬设有圆拱形的凹槽，所述凹槽内设有圆拱形的滑动条且所述滑动条能够沿所述凹槽滑动，所述滑动条上设有多个定位孔；所述外衬上设有多个与所述定位孔配合的连接孔，所述外衬通过所述定位孔和所述连接孔与所述内衬固接，所述外衬的一端与所述测试杆的一端固接。

优选地，所述底座进一步包括设置于所述两个支撑臂的夹角内的连接架。

优选地，所述底座进一步包括设置于所述连接架上且位于所述角度调节装置与所述测试杆连接处的下方的定位装置。

优选地，所述定位装置能够通过调节所述角度调节装置与所述测试杆连接处的高度来调节所述测试杆与所述固定盘所在平面之间的夹角。

优选地，所述角度调节装置能够调节所述测试杆与所述固定盘所在平面之间的夹角在35.26°-45°范围内变化。

优选地，所述测试杆的中间和自由端分别设有探头固定装置。

优选地，所述测试杆上设有长度调节装置，通过所述长度调节装置能够调节所述测试杆的长度。

优选地，所述支撑臂的长度可调。

优选地，所述第一探头和所述第二探头与所述示波器通过光纤连接。

本实用新型具有如下有益效果：

(1)所述系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低，能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准；