[实用新型]用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架

权利要求书

1.用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，该支架包括底座(1)、角度调节装置(2)和测试杆(3)；

所述底座(1)包括两个支撑臂(11)和固定盘(14)，所述两个支撑臂(11)互成90度角且与所述固定盘(14)固接，每个所述支撑臂(11)靠近所述固定盘(14)的一端设有凸起(12)，所述固定盘(14)的中心设有转轴(15)；

所述角度调节装置(2)安装在所述转轴(15)上且能够绕所述转轴(15)转动，所述角度调节装置(2)的一端与所述测试杆(3)的一端连接。

2.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述角度调节装置(2)包括圆拱形内衬(21)和圆拱形外衬(22)；所述内衬(21)的中心设有与所述转轴(15)配合的轴承(214)，所述内衬(21)通过所述轴承(214)安装在所述转轴(15)上，且所述内衬(21)所在的平面与所述固定盘(14)所在的平面互相垂直，所述内衬(21)能够绕所述转轴(15)转动，所述内衬(21)设有圆拱形的凹槽(211)，所述凹槽(211)内设有圆拱形的滑动条(212)且所述滑动条(212)能够沿所述凹槽(211)滑动，所述滑动条(212)上设有多个定位孔(213)；所述外衬(22)上设有多个与所述定位孔(213)配套的连接孔(221)，所述外衬(22)通过所述定位孔(213)和所述连接孔(221)与所述内衬(21)固接，所述外衬(22)的一端与所述测试杆(3)的一端固接。

3.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述底座(1)进一步包括设置于所述两个支撑臂(11)的夹角内的连接架(16)。

4.根据权利要求3所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述底座(1)进一步包括设置于所述连接架(16)上且位于所述角度调节装置(2)与所述测试杆(3)连接处的下方的定位装置(13)。

5.根据权利要求4所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述定位装置(13)能够通过调节所述角度调节装置(2)与所述测试杆(3)连接处的高度来调节所述测试杆(3)与所述固定盘(14)所在平面之间的夹角。

6.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述角度调节装置(2)能够调节所述测试杆(3)与所述固定盘(14)所在平面之间的夹角在35.26°-45°范围内变化。

7.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述测试杆(3)的中间和自由端分别设有探头固定装置(32)。

8.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述测试杆(3)上设有长度调节装置(31)。

9.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述支撑臂(11)的长度可调。