[实用新型]用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架有效

专利信息
申请号: 201220430165.9 申请日: 2012-08-27
公开(公告)号: CN202794353U 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 沈涛;黄建领;姚利军 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 张文祎
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 校准 电磁 场场 均匀 支架
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种支撑装置,特别涉及一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架。

背景技术

用于校准瞬变电磁场的场均匀性的系统通常需要测试多个位置。校准瞬变电磁场的场均匀性时,不但需要支架支撑和固定测试探头,而且需要通过支架调节测试探头的位置和角度。具体地,校准瞬变电磁场的场均匀性时,通常需要通过调节支架来改变固定有探头的测试杆的角度和长度,甚至需要通过调节支架实现测试杆绕固定轴的转动。现有技术中的支架都不能直接实现上述功能,因此在用于校准瞬变电磁场的场均匀性时非常不便。

目前,非常需要一种能够用于校准瞬变电磁场的场均匀性的支架。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架。

本实用新型提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架包括底座、角度调节装置和测试杆;

所述底座包括两个支撑臂和固定盘,所述两个支撑臂互成90度角且与所述固定盘固接,每个所述支撑臂靠近所述固定盘的一端设有凸起,所述固定盘的中心设有转轴;

所述角度调节装置安装在所述转轴上且能够绕所述转轴转动,所述角度调节装置的一端与所述测试杆连接。

优选地,所述角度调节装置包括圆拱形内衬和圆拱形外衬;所述内衬的中心设有与所述转轴配合的轴承,所述内衬通过所述轴承安装在所述转轴上,且所述内衬所在的平面与所述固定盘所在的平面互相垂直,所述内衬能够绕所述转轴转动,所述内衬设有圆拱形的凹槽,所述凹槽内设有圆拱形的滑动条且所述滑动条能够沿所述凹槽滑动,所述滑动条上设有多个定位孔;所述外衬上设有多个与所述定位孔配套的连接孔,所述外衬通过所述定位孔和所述连接孔与所述内衬固接,所述外衬的一端与所述测试杆的一端固接。

优选地,所述底座进一步包括设置于所述两个支撑臂的夹角内的连接架。

优选地,所述底座进一步包括设置于所述连接架上且位于所述角度调节装置与所述测试杆连接处的下方的定位装置。

优选地,所述定位装置能够通过调节所述角度调节装置与所述测试杆连接处的高度来调节所述测试杆与所述固定盘所在平面之间的夹角。

优选地,所述角度调节装置能够调节所述测试杆与所述固定盘所在平面之间的夹角在35.26°-45°范围内变化。

优选地,所述测试杆的中间和自由端分别设有探头固定装置。

优选地,所述测试杆上设有长度调节装置。

优选地,所述支撑臂的长度可调。

本实用新型具有如下有益效果:

(1)当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时,所述支架不仅能够用于支撑和固定探头,而且能够用于调节探头的位置和角度;

(2)所述支架能够满足对电磁脉冲均匀区多角度、多位置和多平面的测试需求;

(3)所述支架对探头的位置和角度的调节精度高;

(4)所述支架制作成本低,使用方便。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的结构示意图;

图2为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的底座的俯视图;

图3为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的底座的侧视图;

图4为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的角度调节装置的内衬的示意图;

图5为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的角度调节装置的外衬的示意图;

图6为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的角度调节装置的外衬与测试杆的连接示意图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型的内容作进一步的描述。

本实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架包括底座1、角度调节装置2和测试杆3,如图1所示。

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