[实用新型]具有监测半导体晶片状态功能的夹持装置有效
申请号: | 201220478274.8 | 申请日: | 2012-09-18 |
公开(公告)号: | CN202839578U | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 刘伟;吴仪;张豹 | 申请(专利权)人: | 北京七星华创电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹 |
地址: | 100015 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 监测 半导体 晶片 状态 功能 夹持 装置 | ||
1.一种具有监测半导体晶片状态功能的夹持装置,其特征在于,所述夹持装置包括:可旋转的卡盘、位于所述卡盘几何中心的旋转轴、固定于所述旋转轴上的传感器、以及分布在所述卡盘上的至少三个夹持元件。
2.如权利要求1所述的夹持装置,其特征在于,每个夹持元件上安装有压缩弹簧。
3.如权利要求1所述的夹持装置,其特征在于,所述卡盘上分布有至少两块可移动的挡块。
4.如权利要求1所述的夹持装置,其特征在于,所述夹持装置还包括可相对于所述卡盘转动的凸轮,所述夹持元件的一端与所述凸轮接触。
5.如权利要求4所述的夹持装置,其特征在于,所述夹持元件与凸轮的接触端处设置有滑轮或轴承。
6.如权利要求4所述的夹持装置,其特征在于,所述凸轮通过轴承安装在卡盘上。
7.如权利要求4所述的夹持装置,其特征在于,所述凸轮上设有至少两个长圆孔。
8.如权利要求1所述的夹持装置,其特征在于,所述卡盘上设有用于限制所述夹持元件相对于卡盘沿夹持元件的轴线旋转的结构。
9.如权利要求7所述的夹持装置,其特征在于,所述夹持装置还包括位于所述长圆孔内的驱动杆。
10.如权利要求1~9中任一项所述的夹持装置,其特征在于,所述传感器为光纤微弯传感器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京七星华创电子股份有限公司,未经北京七星华创电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220478274.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造