[实用新型]表面形貌测量仪有效

专利信息
申请号: 201220595248.3 申请日: 2012-11-13
公开(公告)号: CN202974243U 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 李威 申请(专利权)人: 浙江大铭汽车零部件有限公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 宁波市鄞州金源通汇专利事务所(普通合伙) 33236 代理人: 林君勇
地址: 311200 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 表面 形貌 测量仪
【说明书】:

技术领域

本实用新型专利涉及一种测量仪,尤其涉及一种表面形貌测量仪,主要用于对轮毂单元二维形貌的测量。

背景技术

目前现有技术的轮毂单元在制造后,往往存在一定的不足,导致产品质量的下降。

中国专利201120569166.7,公开一种三维表面形貌的测量台架,包括一测量仪、一测量平台、一X轴移动装置以及一Y轴移动装置,所述的X轴移动装置安装在测量平台上;所述的Y轴移动装置安装在X轴移动装置上;所述三维表面形貌的测量台架还包括一Z轴移动装置,所述的Z轴移动装置安装在Y轴移动装置上;所述的测量仪设在Z轴移动装置上。此结构相对复杂,而且测量精度低。

发明内容

本实用新型主要是解决现有技术中存在的不足,提供一种结构紧凑,同时测量精度好,提升产品质量的表面形貌测量仪。

 本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的: 

  一种表面形貌测量仪,包括仪器测量基座,所述的仪器测量基座上部的右侧设有立柱导轨,所述的立柱导轨上设有测量升降台,所述的测量升降台通过Z向传动系统相升降,所述的Z向传动系统通过Z向电机相传动,所述的Z向传动系统的底部与Z向编码器相连接,所述的测量升降台中设有X向高精度导轨,所述的X向高精度导轨与电感传感器相滑动连接,所述的电感传感器的外侧壁设有金钢石探针,所述的测量升降台通过X向传动系统相水平位移,所述的X向高精度导轨的上方设有X向信号采集光栅和传感器驱动箱,所述的仪器测量基座上部的左侧设有多维工作台,所述的多维工作台上设有旋转工作台,所述的金钢石探针与旋转工作台相对应分布,所述的传感器驱动箱与显示器相连接。

作为优选,所述的Z向电机设在立柱导轨的上部,所述的Z向电机的上部设有Z向手动调整旋钮,所述的电感传感器通过X向限位装置相定位,所述的X向限位装置设在测量升降台上。

作为优选,所述的仪器测量基座设在电机箱的上部,所述的电机箱的底部通过地脚螺钉相定位。

 因此,本实用新型的表面形貌测量仪,结构紧凑,使用效果好,提升产品质量,测量精度高。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

下面通过实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。

 实施例1:如图1所示,一种表面形貌测量仪,包括仪器测量基座1,所述的仪器测量基座1上部的右侧设有立柱导轨2,所述的立柱导轨2上设有测量升降台3,所述的测量升降台3通过Z向传动系统4相升降,所述的Z向传动系统4通过Z向电机5相传动,所述的Z向传动系统4的底部与Z向编码器6相连接,所述的测量升降台3中设有X向高精度导轨7,所述的X向高精度导轨7与电感传感器8相滑动连接,所述的电感传感器8的外侧壁设有金钢石探针9,所述的测量升降台3通过X向传动系统10相水平位移,所述的X向高精度导轨7的上方设有X向信号采集光栅11和传感器驱动箱12,所述的仪器测量基座1上部的左侧设有多维工作台13,所述的多维工作台13上设有旋转工作台14,所述的金钢石探针9与旋转工作台14相对应分布,所述的传感器驱动箱12与显示器15相连接。所述的Z向电机5设在立柱导轨2的上部,所述的Z向电机5的上部设有Z向手动调整旋钮17,所述的电感传感器8通过X向限位装置18相定位,所述的X向限位装置18设在测量升降台3上。所述的仪器测量基座1设在电机箱19的上部,所述的电机箱19的底部通过地脚螺钉20相定位。

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