[实用新型]一种新型测试机构有效

专利信息
申请号: 201220600697.2 申请日: 2012-11-14
公开(公告)号: CN202903457U 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 刘骏;卓维煌 申请(专利权)人: 深圳市华腾半导体设备有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01R31/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518055 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 新型 测试 机构
【权利要求书】:

1.一种新型测试机构,包括基座、电机、凸轮机构、压片机构、测试定位机构,其特征在于:所述凸轮机构包括凸轮及凸轮从动机构,所述电机联接所述的凸轮,所述凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨,所述凸轮从动机构分别位于凸轮上下两侧并均可沿滑轨上下滑动,所述压片机构和测试定位机构分别联接凸轮从动机构上,且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。 

2.根据权利要求1所述一种新型测试机构,其特征在于:所述凸轮分为大行程和小行程两部分,能同时控制两行程不同的凸轮从动机构。 

3.根据权利要求1所述一种新型测试机构,其特征在于:所述测试定位机构包括带定位的测试针基座和带弹簧缓冲的测试针。 

4.根据权利要求1所述一种新型测试机构,其特征在于,所述压片机构包括由良好光学性能制作的压片、防止粘性强的发光元件粘附到压片上的压缩气路、防止气体将脏物吹入检测器具中的光学盖片,传感器。 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华腾半导体设备有限公司,未经深圳市华腾半导体设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220600697.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top