[实用新型]一种新型测试机构

说明书

技术领域

本实用新型主要是涉及一种新型测试机构，进一步涉及一种对发光电子元器件底部测试机构。

背景技术

电子元器件(如LED)是一种非常有用及有效的光源，它的光学构造体将发出的光几乎无损失的集合起来，经狭小的结构投射出来，它的颜色根据它使用的半导体成份造成，目前大约有红、黄、蓝、绿及白光等等。

电子元器件(如LED)的优点是亮度高、工作电压低、功耗小、微型化、易于集成电路匹配、驱动简单、寿命长、耐冲击、性能稳定。然而，电子元器件因其体积小、定向发射光、高亮度、PN结电特性等特点，从而在品质的评价和检测方法方面产生许多问题。不同的应用场合，决定了对电子元器件产品的性能要求。此外，电子元器件既是一种光源，又是一种功率型的半导体器件，因此有关它的质量必须从光学、电学和热学等诸多方面进行综合评价。

因此，电子元器件的检测变得非常重要。然而，目前的电子元器件的测试一般采用的侧面测试的结构，随着电子元器件的制作工艺的发展，已不能满足目前的电子元器件的测试要求。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种采用针对电子元器件底部的测试机构，

本实用新型提供一种新型测试机构，包括基座、电机、凸轮机构、压片机构、测试定位机构。其特征在于：所述凸轮机构包括凸轮及凸轮从动机构，所述电机联接所述的凸轮，所述凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨，所述凸轮从动机构分别位于凸轮上下两侧并均可沿滑轨上下滑动，所述压片机构和测试定位机构分别联接凸轮从动机构上，且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。

优选的，所述凸轮分为大行程和小行程两部分，能同时控制两行程不同的凸轮从动机构。

优选的，所述测试定位机构包括带定位的测试针基座和带弹簧缓冲的测试针。

优选的，所述压片机构包括由良好光学性能制作的压片、防止粘性强的发光元件粘附到压片上的压缩气路、防止气体将脏物吹入检测器具中的光学盖片，传感器。

与现有技术相比，本实用新型的优点在于：采用了针对电子元器件底部测试的机构，有效的解决了对电子元器件底部引脚的测试，更符合目前的电子元器件的制造工艺。

附图说明

图1是本实用新型一种新型测试机构的轴测视图。

图2是本实用新型一种新型测试机构的左视图。

附图标记说明：1、基座 2、滑轨 3、测试针基座 4、压片5、电机 6、凸轮 7、凸轮从动机构一 8、凸轮从动机构二 9、测试针 10传感器 11、光学盖片 12、压缩气路

具体实施方式

下面参照附图结合实施例对本实用新型作进一步的描述。

如图1-图3所示，一种新型测试机构，包括基座1、电机5、凸轮机构、压片机构、测试定位机构。如图3所示凸轮机构包括凸轮6及凸轮从动机构8，电机5联接所述的凸轮6，凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨2，凸轮从动机构8分别位于凸轮6上下两侧并均可沿滑轨2上下滑动，压片机构和测试定位机构分别与各自的凸轮从动机构一7和凸轮从动机构二8联接，且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。测试定位机构包括带定位的测试针基座3和带弹簧缓冲的测试针9。压片机构包括由良好光学性能制作的压片4、防止粘性强的发光元件粘附到压片上的压缩气路12、防止气体将脏物吹入检测器具中的光学盖片11，传感器10。

现对本实施方式的作用进行详细说明，首先，伺服电机5带动凸轮6转动，上凸轮从动机构向下运动，下凸轮从动机构在弹簧的作用下向上运动，压片对电子元器件定位，同时测试探针9继续动作，完全接触发光元器件，通电将发光元件点亮，由光学检测器具检测发光元件的光特性。检测完毕后，电机5带动凸轮转动，当测试针9离开发光元件时，压缩气路12开始吹气，将可能粘着在压片4上的发光元件吹下，光纤传感器10检测到电子元器件，这时电子元器件与压片4完全脱离，压缩气路停止吹气，电机继续转动，回到原位。

以上所述为本实用新型的一个较佳实施例，在不脱离本实用新型的发明构思的情况下，进行的任何显而易见的变形和替换，均属本实用新型的保护范围内。