[实用新型]一种多只BGA同时贴装的控制装置有效
申请号: | 201220641230.2 | 申请日: | 2012-11-28 |
公开(公告)号: | CN203055875U | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 许玲华 | 申请(专利权)人: | 西安晶捷电子技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 贺建斌 |
地址: | 710077 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 bga 同时 控制 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及领域一种控制装置,特别是涉及一种多只BGA同时贴装的控制装置。
背景技术
随着科技产品功能的日趋强大,IC封装的接脚数越来越多,缩小IC尺寸的要求变得更为迫切,自动化程度和成品率要求也在提高。传统的表面封装技术已无法满足这些要求,球栅阵列封装BGA技术正成为新的IC封装主流。BGA是一种表面安装IC的新封装形式,其引出端以矩阵状分布在封装体的底面。虽然I/O引脚数增多,但其引脚间距并没有减少,且远大于传统封装形式,从而提高了组装成品率。因此,BGA技术逐渐成为高密度、高性能、多功能和高I/O引脚数的大规模集成电路封装的最佳选择。
我国内地在半导体封装领域的研究始于20世纪80年代,但用于半导体生产的设备与世界先进水平仍有很大差距。在BGA芯片需求不断增长的情况下,国内半导体封装设备市场需要开发一种新的、能满足BGA封装要求的自动化封装技术。
发明内容
针对现有技术存在的问题,本实用新型的目的是提供一种多只BGA贴装的控制系统,其结构简单、布设方便、使用操作简单且使用效果好,能够完成各种线路板的多个BGA芯片的同时贴装,并且吸片高度的贴装高度互相独立,互不干涉。
本实用新型采用的技术方案为:
一种多只BGA同时贴装的控制装置,包括核心器件PLC可编程逻辑控制器、第一步进电机M1、第二步进电机M2、第三步进电机M3、多组加热管、温度传感器、CCD相机、限位器和气阀, PLC可编程逻辑控制器通过固态继电器与步进电机相连,通过控制第一步进电机M1的正反装实现吸嘴的升降运动,通过控制第二步进电机M2的正反转实现吸嘴的前后对位调节、通过控制第三步进电机M3的正反转实现吸嘴的左右对位调节。
PLC可编程逻辑控制器通过继电器与加热管相连,加热管分别置于一温区、二温区和三温区,一温区和二温区为热风加热,三温区为红外加热,PLC可编程逻辑控制器通过开关与温度传感器相连,同时与定位器和气阀相连。
PLC可编程逻辑控制器通过开关与CCD相机相连, CCD相机分别安装于吸嘴上和工作台上,便于采集图像,进行定位工作。
本实用新型与现有技术相比具有以下优点:
1. 本实用新型设计合理、结构简单且电路部分连线简单;
2. 使用操作方便且实现方便,适于用多种线路板的多片BGA/IC或大型异性元件在全自动同时贴装,采用CCD摄像头精确定位,利用步进电机准确定位,不需另做模具,贴装时间微调精度达0.01秒,从而可精确控制别贴元器件贴装力度和高度。
附图说明
附图为本实用新型的示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做详细描述。
参照附图,一种多只BGA同时贴装的控制装置,包括核心器件PLC可编程逻辑控制器、第一步进电机M1、第二步进电机M2、第三步进电机M3、多组加热管、温度传感器、CCD相机、限位器和气阀, PLC可编程逻辑控制器通过固态继电器与步进电机相连,通过控制第一步进电机M1的正反装实现吸嘴的升降运动,通过控制第二步进电机M2的正反转实现吸嘴的前后对位调节、通过控制第三步进电机M3的正反转实现吸嘴的左右对位调节。
PLC可编程逻辑控制器通过继电器与加热管相连,加热管分别置于一温区、二温区和三温区,一温区和二温区为热风加热,三温区为红外加热,PLC可编程逻辑控制器通过开关与温度传感器相连,同时与定位器和气阀相连。
PLC可编程逻辑控制器通过开关与CCD相机相连, CCD相机分别安装于吸嘴上和工作台上,便于采集图像,进行定位工作。
以上所述,仅是本实用新型的实施例,并非对本实用新型作任何限制,凡是根据本实用新型技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化,均仍属于本实用新型技术方案的保护范围内。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造