[实用新型]一种测试单元以及阵列基板有效
| 申请号： | 201220661627.8 | 申请日： | 2012-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN202975527U | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 范延江 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1362;G02F1/1368;G01R1/06 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 罗建民;邓伯英 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 单元 以及 阵列 | ||
1.一种测试单元，该测试单元包括用于与探针相接触的末端模块，其特征在于，所述末端模块为分叉结构。
2.根据权利要求1所述的测试单元，其特征在于，所述末端模块包括与所述探针接触的衬底以及测试信号线，所述测试信号线的一端与所述衬底连接，另一端与待测试对象连接。
3.根据权利要求2所述的测试单元，其特征在于，所述衬底为由多个条状子衬底构成的栅状结构，所述测试信号线的所述一端与该多个子衬底的一端连接。
4.根据权利要求2所述的测试单元，其特征在于，所述衬底为由多个条状子衬底构成的树状结构，所述测试信号线的所述一端与该树状结构的根节点连接。
5.根据权利要求2所述的测试单元，其特征在于，所述测试信号线为单条线，该单条线的一端与所述衬底连接，另一端与待测试对象连接。
6.根据权利要求2所述的测试单元，其特征在于，所述测试信号线为多条子测试信号线，该多条子测试信号线的一端与所述衬底连接，另一端联结在一起并与待测试对象连接；其中，当所述衬底为由多个条状子衬底构成的栅状结构时，所述多条线的一端与所述多个子衬底一一连接。
7.根据权利要求1-6任一所述的测试单元，其特征在于，相邻所述子衬底之间的间隔距离设置为：使得任意相邻的两个子衬底均能够同时与所述探针相接触。
8.根据权利要求7所述的测试单元，其特征在于，相邻所述子衬底之间的间隔距离相同。
9.一种阵列基板，包括多个薄膜晶体管以及用于对所述多个薄膜晶体管进行测试的测试单元，其特征在于，所述测试单元采用权利要求1-8任一所述的测试单元。
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