[实用新型]批量测试发光二极管寿命的电路系统

权利要求书

1.批量测试发光二极管寿命的电路系统，其特征在于：包括

用于提供人机交互界面和发出指令的计算机；

用于接收计算机发出的指令并输出控制信号及地址信号的数字输出模块；

若干个用于接收数字输出模块输出的控制信号并为待测发光二极管提供所需的电压或电流的测试单元；

用于解析数字输出模块输出的地址信号并选通所需的一个测试单元电路的地址解析模块；

用于接收数字输出模块输出的地址信号、选通测试单元的两个测试点并输出两个测试点电压的信号复用模块；

以及用于测量两个测试点之间的电压差并转换成数字信号传递给计算机的数字电压表；

所述计算机与数字输出模块连接；所述数字输出模块的控制信号输出端与测试单元连接，地址信号输出端分别与地址解析模块和信号复用模块连接；所述地址解析模块通过信号总线与测试单元连接；所述信号复用模块的使能端、输入端和输出端分别与地址解析模块、测试单元和数字电压表连接；所述数字电压表与计算机连接。

2.根据权利要求1所述的批量测试发光二极管寿命的电路系统，其特征在于：所述每个测试单元包括数模转换器DAC、MOS管Q1、电阻R1~R5、运算放大器OP1~OP6以及安装有光电二极管D1的测试盒；其中，所述MOS管Q1、电阻R5和运算放大器OP6接成用于将输入电压转换成输出电流的负反馈电路；所述电阻R3、运算放大器OP1和光电二极管D1接成用于将光电流信号转换成成比例的电压信号的负反馈放大电路；所述运算放大器OP2~OP5接成电压跟随器；所述数模转换器DAC与地址解析模块连接。

3.根据权利要求2所述的批量测试发光二极管寿命的电路系统，其特征在于：所述信号复用模块选通测试单元的两个测试点分别连接电阻R4的两端、待测发光二极管的两端或光电二极管D1转换之后的电压与地电平。

4.根据权利要求3所述的批量测试发光二极管寿命的电路系统，其特征在于：所述信号复用模块由两组多路复用器组成，每组由若干片多路复用器并联构成，其中每组各一片多路复用器的使能端与地址解析模块连接。

5.根据权利要求4所述的批量测试发光二极管寿命的电路系统，其特征在于：所述多路复用器为16选1的多路复用器。

6.根据权利要求2所述的批量测试发光二极管寿命的电路系统，其特征在于：所述运算放大器OP1~OP6为具有高输入阻抗及低输出偏置电压的器件。

7.根据权利要求2所述的批量测试发光二极管寿命的电路系统，其特征在于：所述地址解析模块由若干片译码器或可编程逻辑器件组成。

8.根据权利要求7所述的批量测试发光二极管寿命的电路系统，其特征在于：所述译码器为4-16线译码器。