[实用新型]批量测试发光二极管寿命的电路系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试发光二极管寿命的电路系统，尤其是一种可以批量测试发光二极管寿命的电路系统。属于发光二极管的寿命测试领域。

背景技术

目前，以有机发光二极管（OLED）及无机发光二极管（LED）为代表的半导体发光器件，是新一代照明及显示技术的最热门的研究对象，以无机发光二极管为代表的绿色照明器件，以其高亮度，高效率，长寿命等等优点，正在逐渐的取代现有的白炽灯。而以OLED器件制作的平板显示器，具有超薄，高亮度，节能环保，宽视角，高响应速度，可弯曲等等优点，已经成功应用在手持设备上，并将逐渐的推广到大屏幕显示当中。同时，将OLED应用于照明的研究工作也在不断进步当中。

无论应用于照明还是显示领域，寿命均是评价发光二极管综合性能的关键指标之一，而为了适应产业化的需求，大批量器件的寿命测试设备的研发变得尤其重要。而现有的寿命测试设备，大多只能满足少量器件的测试要求，而且存在很多问题，比如说测试速度慢，精度低，可靠性差，成本高。

综上所述，可以很容易了解到，需要提供一种新的电路系统，用以对发光二极管器件寿命进行批量的测试工作，且必须具有低成本、高速度、高精度以及良好的可靠性。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决上述现有技术的缺陷，提供一种成本低、精度高、速度快的批量测试发光二极管寿命的电路系统。

本实用新型的目的可以通过采取如下技术方案达到：

用于提供人机交互界面和发出指令的计算机；

用于接收计算机发出的指令并输出控制信号及地址信号的数字输出模块；

若干个用于接收数字输出模块输出的控制信号并为待测发光二极管提供所需的电压或电流的测试单元；

用于解析数字输出模块输出的地址信号并选通所需的一个测试单元电路的地址解析模块；

用于接收数字输出模块输出的地址信号、选通测试单元的两个测试点并输出两个测试点电压的信号复用模块；

以及用于测量两个测试点之间的电压差并转换成数字信号传递给计算机的数字电压表；

所述计算机与数字输出模块连接；所述数字输出模块的控制信号输出端与测试单元连接，地址信号输出端分别与地址解析模块和信号复用模块连接；所述地址解析模块通过信号总线与测试单元连接；所述信号复用模块的使能端、输入端和输出端分别与地址解析模块、测试单元和数字电压表连接；所述数字电压表与计算机连接。

作为一种优选方案，所述每个测试单元包括数模转换器DAC、MOS管Q1、电阻R1~R5、运算放大器OP1~OP6以及安装有光电二极管D1的测试盒；其中，所述MOS管Q1、电阻R5和运算放大器OP6接成用于将输入电压转换成输出电流的负反馈电路；所述电阻R3、运算放大器OP1和光电二极管D1接成用于将光电流信号转换成成比例的电压信号的负反馈放大电路；所述运算放大器OP2~OP5接成电压跟随器；所述数模转换器DAC与地址解析模块连接。

作为一种优选方案，所述信号复用模块选通测试单元的两个测试点分别连接电阻R4的两端、待测发光二极管的两端或光电二极管D1转换之后的电压与地电平。

作为一种优选方案，所述信号复用模块由两组多路复用器组成，每组由若干片多路复用器并联构成，其中每组各一片多路复用器的使能端与地址解析模块连接。

作为一种优选方案，所述多路复用器为16选1的多路复用器。

作为一种优选方案，所述运算放大器OP1~OP6为具有高输入阻抗及低输出偏置电压的器件。

作为一种优选方案，所述地址解析模块由若干片译码器或可编程逻辑器件组成。

作为一种优选方案，所述译码器为4-16线译码器。

本实用新型相对于现有技术具有如下的有益效果：

本实用新型的电路系统结构合理、成本较低，通过若干个测试单元可对大批量的有机或者无机发光二极管的寿命进行测试工作，而且在各器件的作用下，具有测试速度快、精度高和以及良好可靠性的优点。

附图说明

图1为本实用新型的电路系统结构原理框图。

图2为本实用新型的电路系统测试单元的电路原理图。

图3为本实用新型的电路系统地址解析模块的电路原理图。

图4为本实用新型的电路系统信号复用模块的电路原理图。

具体实施方式

实施例1：