[实用新型]恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统有效
| 申请号： | 201220708414.6 | 申请日： | 2012-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN202975165U | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 陈建松;王一民;张贻海;吕振兴;崔立志 | 申请（专利权）人： | 同方国芯电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 唐山永和专利商标事务所 13103 | 代理人： | 张云和 |
| 地址： | 064100 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 恒温 晶体振荡器 拐点 电阻 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统，包括电源、测试控制板、频率测量仪、计算机，其特征在于，所述测试控制板上允许有多个通过选通开关控制接通的测试单元，每个测试单元均由待测试的恒温晶体振荡器和与恒温晶体振荡器连接的桥路电阻组成，所述桥路电阻是两个并联的数字电位器；所述计算机与测试控制板上的选通开关并口连接，与桥路电阻中的数字电位器串口连接，计算机通过PIC-DIO-96卡自动采集数据；所述频率测量仪与恒温晶体振荡器连接，并通过GPIB接口总线与所述计算机连接。
2.根据权利要求1所述的恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统，其特征在于，所述数字电位器是MAX5477-79，其中一个阻值为10K，另一个阻值为100K。
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