[发明专利]X射线诊断装置有效
申请号: | 201280001808.0 | 申请日: | 2012-01-10 |
公开(公告)号: | CN103096800A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 松崎武夫;后藤康则;落合理绘 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G01T1/20;G03B42/02;G03B42/04 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 孙蕾 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 诊断 装置 | ||
1.一种X射线诊断装置,其特征在于,具备:
X射线产生部,产生对被检体照射的X射线;
X射线检测部,包含检测透过上述被检体的上述X射线的检测器,该X射线检测部生成X射线透过信息;
图像生成部,根据上述X射线透过信息生成X射线图像;以及
寿命探测部,根据上述X射线图像的输出值探测上述检测器的寿命,
上述寿命探测部具备:
亮度等级值运算部,根据在上述X射线图像或上述检测器中设定的关心区域中的上述输出值,计算对上述检测器照射的X射线量;
照射剂量累计部,将由上述亮度等级值运算部计算出的上述X射线量加到每个上述关心区域的过去的X射线量上,计算上述关心区域中的累计照射剂量;以及
寿命判定部,根据上述累计照射剂量,进行与上述检测器相关的寿命的判定。
2.根据权利要求1所述的X射线诊断装置,其特征在于,
对于上述X射线图像设定单个上述关心区域或者多个上述关心区域。
3.根据权利要求1或2所述的X射线诊断装置,其特征在于,
使上述X射线以收敛的状态透过上述被检体,在根据上述X射线透过信息生成的上述X射线图像的周围产生上述被检体未映到的周边区域的情况下,在上述X射线图像的上述周边区域设定上述关心区域。
4.根据权利要求1所述的X射线诊断装置,其特征在于,
上述亮度等级值运算部使用表示上述X射线量与上述输出值的关系的关系式,计算对上述检测器照射的上述X射线量。
5.根据权利要求4所述的X射线诊断装置,其特征在于,
上述亮度等级值运算部考虑针对上述被检体的上述X射线的照射条件,计算对上述检测器照射的上述X射线量。
6.根据权利要求1-5中的任一项所述的X射线诊断装置,其特征在于,
上述X射线诊断装置具备通知基于上述寿命判定部的判定的结果的通知部。
7.根据权利要求6所述的X射线诊断装置,其特征在于,
对上述X射线图像设定有多个上述关心区域的情况下,上述通知部以能够识别多个上述关心区域的每一个的上述累计照射剂量的状态进行通知。
8.根据权利要求6所述的X射线诊断装置,其特征在于,
上述通知部通知针对寿命的当前的上述检测器的状态,作为基于上述寿命判定部的判定的结果。
9.根据权利要求6所述的X射线诊断装置,其特征在于,
上述通知部具备声音产生部,使用声音来通知基于上述寿命判定部的判定的结果。
10.根据权利要求1-9中的任一项所述的X射线诊断装置,其特征在于,
上述检测器为平面检测器或X射线像增强器。
11.根据权利要求1-10中的任一项所述的X射线诊断装置,其特征在于,
上述X射线诊断装置具备能够与上述X射线诊断装置的外部进行通信的通信控制部,上述X射线诊断装置能够将基于上述寿命判定部的判定的结果向外部进行通知。
12.一种X射线诊断装置,其特征在于,具备:
X射线产生部,产生对被检体照射的X射线;
X射线检测部,包含检测透过上述被检体的上述X射线的检测器,该X射线检测部生成X射线透过信息;
图像生成部,根据上述X射线透过信息,生成X射线图像;以及
寿命探测部,根据上述X射线图像中的像素值探测上述检测器的寿命,
上述寿命探测部具备:
亮度等级值运算部,计算在上述X射线图像或上述检测器中设定的关心区域中的上述像素值;
像素值累计部,将由上述亮度等级值运算部计算出的上述像素值加到每个上述关心区域的过去的像素值上,计算上述关心区域中的累计了的像素值;以及
寿命判定部,根据上述累计像素值,进行与上述检测器相关的寿命的判定。
13.一种X射线诊断装置,其特征在于,具备:
X射线产生装置;以及图像收集装置,
上述X射线产生装置具备:
X射线产生部,产生对被检体照射的X射线;
系统控制部,控制上述X射线产生部,
上述图像收集装置,具备:
X射线检测部,包含检测透过上述被检体的上述X射线的检测器,该X射线检测部生成X射线透过信息;
图像生成部,根据上述X射线透过信息,生成X射线图像;
亮度等级值运算部,根据在上述X射线图像或上述检测器中设定的关心区域中的上述输出值,计算对上述检测器照射的X射线量;
照射剂量累计部,将由上述亮度等级值运算部计算出的上述X射线量加到每个上述关心区域的过去的X射线量上,计算上述关心区域中的累计照射剂量;以及
寿命判定部,根据上述累计照射剂量,进行与上述检测器相关的寿命的判定。
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