[发明专利]X射线诊断装置

说明书

技术领域

本发明的实施方式涉及X射线诊断装置，特别是该X射线诊断装置能够掌握与检测对患者曝光的X射线的检测器的灵敏度劣化相关的状态。

背景技术

作为为了得到被检体的放射线透视图像的放射线检测器，一直以来使用将像增强器(Image Intensifier：以下表示为“I.I.”)和撮像管或固体撮像元件(例如，电荷耦合器件，Charge Coupled Device：以下表示为“CCD”)组合得到的放射线检测器。其将透过了被检体的X射线信息变换为光学信息，将该光学信息取入到电视摄像机，作为图像显示在电视监视器上，或加晒到胶片上。

对于由I.I.与撮像管或CCD组合得到的这样的放射线检测器，正在开发运用半导体技术的平板型放射线检测器(Flat Panel Detector：以下表示为“FPD”)作为响应于希望检测出更加细小的缺陷、病变这样的强烈需求的新的放射线检测器。该FPD是以通过将放射线变换为电荷等的光导电膜等覆盖在例如玻璃基板上形成的切换元件、电容的方式来形成的半导体阵列。FPD具备高分辨率、质量轻、紧凑，并且图像畸变也少的特征。

作为为了这样地得到被检体的放射线透视图像的检测器，列举了I.I.，FPD(例如日本特开2009-75951号公报)。

关于这些检测器的寿命，求出产品化时对寿命起作用的X射线的合计的累计量，假定检测器的使用频度来计算耐久年数。用户以该耐久年数为基准来了解检测器的寿命。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2009-75951号公报

但是，在安装了搭载着这些检测器的X射线诊断装置的医疗现场，装置的使用用途、频度各不相同，所以上述假定的耐久年数无法成为实际上正确的耐久年数。此外，目前状况是一直没有确立通知操作者伴随着由照射的X射线量而引起的灵敏度劣化的检测器的寿命的具体的方法。

发明内容

实施方式是为了解决上述问题点儿被提出的，其目的在于能够更加准确地掌握搭载于X射线诊断装置的检测器的寿命并进行通知。

为了实现上述目的，实施方式涉及的第一X射线诊断装置，具备：X射线产生部，产生对被检体照射的X射线；X射线检测部，包含检测透过上述被检体的上述X射线的检测器，该X射线检测部生成X射线透过信息；图像生成部，根据上述X射线透过信息生成X射线图像；以及寿命探测部，根据上述X射线图像中的输出值探测上述检测器的寿命，上述寿命探测部具备：亮度等级值运算部，根据在上述X射线图像或上述检测器中设定的关心区域中的上述输出值，计算对上述检测器照射的X射线量；照射剂量累计部，将由上述亮度等级值运算部计算出的上述X射线量加到每个上述关心区域的过去的X射线量上，计算上述关心区域中的累计照射剂量；以及寿命判定部，根据上述累计照射剂量，进行与上述检测器相关的寿命的判定。

为了实现上述目的，实施方式的第二X射线诊断装置，其特征在于，具备：X射线产生装置；以及图像收集装置，上述X射线产生装置具备：X射线产生部，产生对被检体照射的X射线；系统控制部，控制上述X射线产生部，上述图像收集装置，具备：X射线检测部，包含检测透过上述被检体的上述X射线的检测器，该X射线检测部生成X射线透过信息；图像生成部，根据上述X射线透过信息，生成X射线图像；亮度等级值运算部，根据在上述X射线图像或上述检测器中设定的关心区域中的上述输出值，计算对上述检测器照射的X射线量；照射剂量累计部，将由上述亮度等级值运算部计算出的上述X射线量加到每个上述关心区域的过去的X射线量上，计算上述关心区域中的累计照射剂量；以及寿命判定部，根据上述累计照射剂量，进行与上述检测器相关的寿命的判定。

为了实现上述目的，实施方式的第三X射线诊断装置，其特征在于，具备X射线产生部，产生对被检体照射的X射线；X射线检测部，包含检测透过上述被检体的上述X射线的检测器，该X射线检测部生成X射线透过信息；图像生成部，根据上述X射线透过信息，生成X射线图像；以及寿命探测部，根据上述X射线图像中的像素值探测上述检测器的寿命，上述寿命探测部具备：亮度等级值运算部，计算在上述X射线图像或上述检测器中设定的关心区域中的上述像素值；像素值累计部，将由上述亮度等级值运算部计算出的上述像素值加到每个上述关心区域的过去的像素值上，计算上述关心区域中的累计了的像素值；以及寿命判定部，根据上述累计像素值，进行与上述检测器相关的寿命的判定。

附图说明

图1是示出第1实施方式中的X射线诊断装置的概略结构的整体图。