[发明专利]分束器以及观察装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种分束器以及观察装置。

背景技术

观察装置中的显微镜具备用于将观察对象物的一部分进行放大来进行观察的光学系统(以下称为放大观察光学系统)。另外，例如在专利文献1以及专利文献2中公开了除了具备放大观察光学系统之外还具备用于对观察对象物整体进行观察的光学系统(以下称为整体观察光学系统)的显微镜(装置)。这样，由于具备放大观察光学系统和整体观察光学系统，能够切换光学系统来进行观察对象物的放大观察以及整体观察这两者。

专利文献1：日本特开平5-232385号公报

专利文献2：日本特开2002-148526号公报

发明内容

发明要解决的问题

在专利文献1以及专利文献2的显微镜(装置)中，放大观察光学系统的光轴与整体观察光学系统的光轴不一致，因此在对同一观察对象物进行放大观察时和进行整体观察时需要移动操作台。因此，在进行放大观察的期间视野窄，难以掌握正在观察当前观察对象物的哪个地方。特别是，在如观察对象物为细胞培养用的微孔板的情况那样对多个孔依次放大观察时，有时导致过程中不知道它的顺序。

因此，例如图14所示，能够使用半透射半反射镜2使包括整体观察用的照相机3和透镜30的整体观察光学系统的光轴与包括放大观察用的照相机4和透镜40的放大观察光学系统的光轴一致。在这种观察装置中，例如能够通过将由各自的照相机大致同时拍摄到的一对图像显示在显示器等，来一边掌握当前的观察地方一边进行放大观察。

然而，在图14所示的观察装置中，无法使显微镜物镜等放大观察用透镜40靠近观察对象物9到比D/2+α更近。在此，D是观察对象物9的长度、宽度等尺寸，α是半透射半反射镜2与放大观察用透镜40不干扰的距离，当使放大观察用透镜40的入瞳直径EP近似成该透镜的外径时为α≈EP/2。

因此，放大观察用透镜40的(最大)数值孔径NA为

NA=n0·sinθ

≈(EP/2)/(D/2+α)

≈EP/(D+EP)

，与D相应地变小。在此，n0是空气的折射率，设为n0≈1，θ是放大观察用透镜40的孔径角(针对位于放大观察光学系统的光轴上的观察对象物9的物点，该透镜的入射光瞳所张开的角度)。因而，放大观察用透镜40的(理论)分辨率δ(=0.61λ/NA)与D相应地变大(恶化)。在此，λ是入射光的波长。

另外，需要与D/2+α相应地动作距离(在显微镜物镜的情况下为该镜筒前缘与物点之间的距离)大的放大观察用透镜40。

用于解决问题的方案

解决上述课题的主要的本发明是一种分束器，其特征在于，具备：第一平行平面板，其具有平行的第一面以及第二面，具有比空气高的折射率；第二平行平面板，其具有第三面以及第四面，具有与上述第一平行平面板相同的折射率，该第三面配置成与上述第一面在同一平面上，该第四面配置成与上述第二面在同一平面上；以及光分离部，其夹在上述第一平行平面板与上述第二平行平面板之间，使从上述第一面以及上述第三面侧入射的入射光的T%(0<T<100)透射到上述第二面以及上述第四面侧，并且使从上述第一面以及上述第三面侧入射的入射光的(100-T)%向与上述第一面至上述第四面平行的方向反射。上述第一平行平面板以及上述第二平行平面板具备减光部，该减光部在从上述第一面以及上述第三面侧入射到上述光分离部的入射光以及从上述光分离部透射到上述第二面以及上述第四面侧的透射光不通过的区域，使从上述第一面以及上述第三面侧入射的入射光的T%透射到上述第二面以及上述第四面侧。

根据附图以及本说明书的记载清楚本发明的其它特征。

<相关申请的相互参照>

该申请基于2011年9月30日申请的日本专利申请第2011-218015号要求优先权，将其内容援引到本申请中。

发明的效果

根据本发明，不会减小数值孔径或使用动作距离大的透镜就能够同时进行整体观察以及放大观察。

附图说明

图1是表示具备本发明的一个实施方式中的分束器的观察装置整体的结构的示意图。

图2是表示本发明的一个实施方式中的分束器的结构的立体图。

图3是说明由于使用分束器1而能够使放大观察用透镜40的数值孔径变大的图。