[发明专利]包括部分补偿探测线圈中的磁激发场的用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置

权利要求书

1.一种用于磁感应阻抗测量设备（100）的线圈装置（215），所述线圈装置（215）包括：

-激发线圈（208），被配置为在对象（106）中生成磁激发场；以及

-探测线圈（210-214），被配置为探测磁响应场，所述磁响应场是对所述磁激发场在所述对象（106）中感生出电流作出响应而生成的，其中，所述探测线圈（210-214）中的净磁激发场的场强的值包括所述探测线圈（210-214）中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围。

2.根据权利要求1所述的线圈装置（215），其中，所述探测线圈（210-214）中的所述净磁激发场的所述场强的所述值等于所述探测线圈（210-214）中的所述磁响应场的所述场强的所述平均值。

3.根据权利要求1或2所述的线圈装置（215），所述线圈装置（215）还包括：

-匀场线圈（364），被配置为在所述探测线圈（210-214）中生成磁匀场场，使得所述探测线圈（210-214）中的所述净磁激发场的所述场强的所述值包括所述探测线圈（210-214）中的所述磁响应场的所述场强的所述平均值的所述大小范围。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的线圈装置（215），所述线圈装置（215）还包括：

-至少另一探测线圈（210-214），被配置为探测对所述磁激发场在所述对象（106）中感生出所述电流作出响应而生成的所述磁响应场，

其中，所述至少另一探测线圈（210-214）中的净磁激发场的场强的值包括所述至少另一探测线圈（210-214）中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围。

5.根据权利要求1至4中的任一项所述的线圈装置（215），其中，所述线圈装置（215）包括平面配置。

6.一种用于确定对象（106）的参数的磁感应阻抗测量设备（100），所述磁感应阻抗测量设备（100）包括：

-根据权利要求1至5中的任一项所述的线圈装置（215）；以及

-参数确定单元（254），被配置为基于所述磁响应场和所述磁激发场来确定所述对象（106）的所述参数。

7.根据权利要求6所述的磁感应阻抗测量设备（100），所述磁感应阻抗测量设备（100）还包括：

-相位差值确定单元（224-228），被配置为确定所述磁激发场的相位的相位值与所述磁响应场的相位的相位值之间的相位差值，

其中，所述参数确定单元（254）被配置为基于所确定的相位差值来确定所述对象（106）的所述参数。

8.根据权利要求6或7所述的磁感应阻抗测量设备（100），所述磁感应阻抗测量设备（100）还包括：

-激发场相位值生成单元（218），被配置为生成激发相位值信号，所述激发相位值信号指示所述磁激发场的所述相位的相位值并且将被提供给所述激发线圈（208）和所述相位差值确定单元（224-228）。

9.根据权利要求6至8中的任一项所述的磁感应阻抗测量设备（100），其中，所述磁感应阻抗测量设备（100）被配置为磁感应阻抗断层摄影设备。

10.一种确定对象（106）的参数的方法，所述方法包括：

-由激发线圈（208）在对象（106）中生成磁激发场；

-由探测线圈（210-214）探测所述探测线圈（210-214）中的磁响应场，其中，所述磁响应场是对所述磁激发场在所述对象（106）中感生出电流作出响应而生成的，其中，所述探测线圈（210-214）中的净磁激发场的场强的值包括所述探测线圈（210-214）中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围；以及

-基于所探测的磁响应场和所述磁激发场来确定所述对象（106）的所述参数。

11.根据权利要求10所述的方法，所述方法还包括：

-在所述对象（106）的所述参数的所述确定之前调整所述探测线圈（210-214）中的所述净磁激发场的所述场强的所述值。