[发明专利]包括部分补偿探测线圈中的磁激发场的用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置

说明书

技术领域

本发明涉及磁感应阻抗测量技术领域，并且特别是涉及用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置、用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备、用于确定对象的参数的方法、以及程序元件。

背景技术

磁感应阻抗测量代表用于检查导电对象的侵入性且无接触的检查技术。特别是，此技术适合于确定对象的参数，例如人的生理特性。

常规地，磁感应阻抗测量技术的线圈装置包括激发线圈和一个或多个探测线圈。激发线圈被配置为生成磁激发场，并且该一个或多个探测线圈被配置为探测对磁激发场在对象中感生出涡流进行响应而生成的磁响应场。

在磁感应阻抗测量设备的操作中，在激发线圈中感生出时变电流，使得激发线圈生成磁激发场，该磁激发场穿过待检查的对象并且相应地在对象内感生出涡流。涡流的大小基于磁激发场的磁通密度和对象的电导率。通过对象中涡流的流动生成磁响应场，并且通过该一个或多个探测线圈来探测该磁响应场，因为在该一个或多个探测线圈中感生出了电流或电压。感生出的电流或电压是对象的电导率的量度并且取决于对象的电导率和几何结构以及激发线圈和该一个或多个探测线圈的几何结构。

通常，激发线圈位于该一个或多个探测线圈附近，使得在该一个或多个探测线圈中存在磁激发场，并且相应地在该一个或多个探测线圈中引起待感生出的附加电流或附加电压。此外，与该一个或多个探测线圈中的磁响应场的场强相比，该一个或多个探测线圈中的磁激发场的场强在更高数量级，由此导致对于磁响应场的探测的差的信噪比。

当确定对象的参数时，与由对象自身在该一个或多个探测线圈中引起的平均信号的信号值相比，由对象的参数在该一个或多个探测线圈中引起的信号改变可以包括低的值。结果归因于该一个或多个探测线圈中磁激发场的存在和/或由对象的参数引起的信号改变的低的信号改变值，可能难以精确地确定的对象的参数。

已知可以补偿该一个或多个探测线圈中的磁激发场，以提高对象的参数的确定的精度。

WO2010/052609A1描述了用于磁感应断层摄影系统的线圈装置。线圈装置包括至少一个激发线圈和至少一个探测线圈。该至少一个探测线圈中的磁激发场的场强被充分补偿或抵消，使得由该至少一个探测线圈中的磁响应场引起的信号能够用于计算待检查的对象的电导率分布并用于可视化对象的电导率分布。

EP1926424A2描述了用于感应测量导电组织的生物阻抗的系统和方法。该系统包括激发线圈和探测线圈，探测线圈的轴取向为基本垂直于通过探测线圈的磁激发场的磁通线。此外，该系统包括匀场线圈，该匀场线圈被配置为生成磁匀场场（shimming field），使得抵消探测线圈中的磁激发场。

可能仍然存在对以高精度确定对象的参数的需求。

发明内容

本发明的目的是提供用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置以及容许容易和精确地确定对象的参数的相应的方法。

上述目的通过根据独立权利要求的用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置、用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备、确定对象的参数的方法、以及程序元件实现。

根据本发明的范例方面，提供了一种用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置，所述线圈装置包括：激发线圈，被配置为在对象中生成磁激发场；以及探测线圈，被配置为探测磁响应场，所述磁响应场是对所述磁激发场在所述对象中感生出电流作出响应而生成的，其中，所述探测线圈中的净磁激发场的场强的值包括所述探测线圈中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围。

根据本发明的另一范例方面，提供了一种用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备，所述磁感应阻抗测量设备包括：上述的线圈装置；以及参数确定单元，被配置为基于所述磁响应场和所述磁激发场来确定所述对象的所述参数。

根据本发明的另一范例方面，提供了一种确定对象的参数的方法，所述方法包括：由激发线圈在对象中生成磁激发场；由探测线圈探测所述探测线圈中的磁响应场，其中，所述磁响应场是对所述磁激发场在所述对象中感生出电流作出响应而生成的，其中，所述探测线圈中的净磁激发场的场强的值包括所述探测线圈中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围；以及基于所述磁响应场和所述磁激发场来确定所述对象的所述参数。

提供了如上所述的用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备的用途。

根据本发明的另一范例方面，提供了一种程序元件，所述程序元件在由处理器执行时被配置为实现或控制如上所述的确定对象的参数的方法。