[发明专利]用于软解码的可靠性度量管理有效
申请号: | 201280009420.5 | 申请日: | 2012-02-16 |
公开(公告)号: | CN103380416A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | 阳学仕 | 申请(专利权)人: | 马维尔国际贸易有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 酆迅 |
地址: | 巴巴多斯*** | 国省代码: | 巴巴多斯;BB |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 解码 可靠性 度量 管理 | ||
1.一种用于读取存储器的目标存储器扇区的方法,所述方法包括:
基于与所述存储器的多个存储器扇区对应的读取数据,估计第一一个或者多个参考电压;
使用所述第一一个或者多个参考电压,对所述目标存储器扇区执行第一读取操作;
确定所述第一读取操作的纠错码(ECC)解码失败;
响应于确定所述第一读取操作的所述ECC解码失败并且基于与所述目标存储器扇区对应的读取数据,更新所述第一一个或者多个参考电压的估计以生成第二一个或者多个参考电压;以及
使用所述第二一个或者多个参考电压,对所述目标存储器扇区执行第二读取操作。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
基于与所述多个存储器扇区对应的所述读取数据,估计与所述第一一个或者多个参考电压对应的第一对数似然比(LLR)集,其中LLR是针对给定的参考电压范围的针对从存储器单元读取的每个数据位的置信度的指示;
其中确定所述第一读取操作的所述ECC解码失败还包括在使用所述第一LLR集对所述第一读取操作的结果进行ECC解码时确定所述第一读取操作的所述ECC解码失败,
其中所述方法还包括:响应于确定所述第一读取操作的所述ECC解码失败并且基于与所述目标存储器扇区对应的所述读取数据,更新所述第一LLR集的估计以生成第二LLR集,以及
其中执行所述第二读取操作还包括使用所述第二LLR集对所述第二读取操作的结果进行ECC解码。
3.根据权利要求2所述的方法,其中估计所述第一一个或者多个参考电压和估计所述第一LLR集还包括:
接收与所述多个存储器扇区的第一子集对应的读取数据;
在接收与所述第一子集对应的所述读取数据之后并且基于与所述第一子集对应的所述读取数据,估计第三一个或者多个参考电压以估计第三一个或者多个参考电压并且估计第三LLR集以形成估计的第三LLR集;以及
基于接收与所述多个存储器扇区中的一个或者多个存储器扇区对应的新读取数据,自适应地更新所述估计的第三一个或者多个参考电压和所述估计的第三LLR集以分别生成所述第一一个或者多个参考电压和所述第一LLR集。
4.根据权利要求3所述的方法,其中在所述存储器的初始化之后发生估计所述第三一个或者多个参考电压和所述第三LLR集。
5.根据权利要求3所述的方法,其中:
在第一时间段期间写入所述目标存储器扇区中的将被读取的数据;以及
在所述第一时间段期间或者附近还写入与所述多个存储器扇区中的所述一个或者多个存储器扇区对应的所述新读取数据。
6.根据权利要求2所述的方法,其中更新所述第一一个或者多个参考电压的所述估计和更新所述第一LLR集的所述估计还包括:
响应于确定所述第一读取操作的所述ECC解码失败,对所述目标存储器扇区执行多个读取操作以生成与所述目标存储器扇区对应的当前读取数据;以及
基于与所述目标存储器扇区对应的所述当前读取数据,更新所述第一一个或者多个参考电压的所述估计以生成所述第二一个或者多个参考电压并且更新所述第一LLR集的所述估计以生成所述第二LLR集。
7.根据权利要求2所述的方法,其中更新所述第一一个或者多个参考电压的所述估计和更新所述第一LLR集的所述估计还包括:
接收与所述目标存储器扇区对应的所述读取数据;以及
基于与所述目标存储器扇区对应的所述读取数据,更新所述第一一个或者多个参考电压的所述估计以生成所述第二一个或者多个参考电压并且更新所述第一LLR集的所述估计以生成所述第二LLR集。
8.根据权利要求2所述的方法,还包括:
基于未能使用所述第二LLR集对所述第二读取操作的结果进行成功地ECC解码,确定所述第二读取操作的第二ECC解码失败。
9.根据权利要求8所述的方法,还包括:
响应于确定所述第二读取操作的所述第二ECC解码失败,使用第三LLR集对所述第二读取操作的结果进行ECC解码。
10.根据权利要求9所述的方法,还包括:
使用不同LLR集重复对所述第二读取操作的结果进行ECC解码直至以下各项中的一项或者多项发生:所述ECC解码成功、将所述ECC解码重复阈值次数和将所重复的ECC解码执行至少持续阈值持续时间。
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