[发明专利]半导体装置和显示装置无效
申请号: | 201280016326.2 | 申请日: | 2012-04-02 |
公开(公告)号: | CN103460391A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 原义仁;中田幸伸 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;G02F1/1368;H01L21/336;H01L29/861 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 显示装置 | ||
1.一种半导体装置,其具有:
绝缘基板;
在所述绝缘基板上形成的多个配线;
多个薄膜晶体管;和
多个二极管元件,该多个二极管元件各自将所述多个配线中的2条配线相互电连接,
所述半导体装置的特征在于:
所述多个二极管元件各自具有:
与所述薄膜晶体管的栅极电极由相同的导电膜形成的第一电极;
在所述第一电极上形成的氧化物半导体层;和
与所述薄膜晶体管的源极电极由相同的导电膜形成,并且与所述氧化物半导体层接触的第二电极和第三电极,
所述氧化物半导体层在所述第一电极与所述第二电极之间、以及所述第一电极与所述第三电极之间分别具有偏置区域,在从所述绝缘基板的法线方向看时,所述偏置区域与所述第一电极不重叠。
2.如权利要求1所述的半导体装置,其特征在于:
在从所述绝缘基板的法线方向看时,所述偏置区域与所述第一电极、第二电极和第三电极均不重叠。
3.如权利要求1或2所述的半导体装置,其特征在于:
所述偏置区域的与沟道方向平行的方向的宽度为3μm以上5μm以下。
4.如权利要求1~3中任一项所述的半导体装置,其特征在于:
所述多个二极管元件彼此方向相反地并联地电连接。
5.如权利要求1~4中任一项所述的半导体装置,其特征在于:
所述氧化物半导体层含有In、Ga和Zn中的至少1种。
6.如权利要求1~5中任一项所述的半导体装置,其特征在于:
所述多个配线包括多个源极配线和多个栅极配线,
所述多个二极管元件包括将2条源极配线相互电连接的二极管元件和将2条栅极配线相互电连接的二极管元件中的至少1种。
7.如权利要求1~6中任一项所述的半导体装置,其特征在于:
所述多个配线还包括多个辅助电容配线、共用电极配线和多个检查信号配线中的任意配线,
所述多个二极管元件包括:将2条源极配线相互电连接的二极管元件、将2条栅极配线相互电连接的二极管元件、将栅极配线与辅助电容配线相互电连接的二极管元件、将源极配线与辅助电容配线相互电连接的二极管元件、将辅助电容配线与共用电极配线相互电连接的二极管元件、将栅极配线与共用电极配线相互电连接的二极管元件、将源极配线与共用电极配线相互电连接的二极管元件、或将2条检查信号配线相互电连接的二极管元件。
8.一种显示装置,其特征在于:
具有权利要求1~7中任一项所述的半导体装置。
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