[发明专利]利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序有效
申请号: | 201280018407.6 | 申请日: | 2012-04-02 |
公开(公告)号: | CN103477210A | 公开(公告)日: | 2013-12-25 |
发明(设计)人: | 田边哲也 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 单个 发光 粒子 检测 分析 装置 方法 以及 用计 程序 | ||
1.一种光分析装置,使用共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统检测来自在样本溶液中分散且随机运动的发光粒子的光,该光分析装置的特征在于,包括:
光检测区域移动部,其使上述光学系统的光检测区域的位置在上述样本溶液内移动;
光检测部,其检测来自上述光检测区域的光;以及
信号处理部,其生成一边使上述光检测区域的位置在上述样本溶液内移动一边由上述光检测部检测出的来自上述光检测区域的光的按时间序列的光强度数据,在上述按时间序列的光强度数据中个别地检测表示来自各个上述发光粒子的光的信号,
其中,上述信号处理部从上述按时间序列的光强度数据中去除上述按时间序列的光强度数据中的不存在表示来自各个上述发光粒子的光的信号的区域。
2.根据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,
上述信号处理部针对上述按时间序列的光强度数据中每个规定宽度的时间区间计算表示有无来自发光粒子的光的光强度的特性值,使用上述特性值决定不存在表示来自各个上述发光粒子的光的信号的时间区间,将与不存在表示来自各个上述发光粒子的光的信号的时间区间对应的区域从上述按时间序列的光强度数据中去除。
3.根据权利要求1或2所述的光分析装置,其特征在于,
上述信号处理部在通过从上述按时间序列的光强度数据中去除上述按时间序列的光强度数据中的不存在表示来自各个上述发光粒子的光的信号的区域而获得的光强度数据上,个别地检测表示来自各个上述发光粒子的光的信号。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的光分析装置,其特征在于,
上述信号处理部将通过从上述按时间序列的光强度数据中去除上述按时间序列的光强度数据中的不存在表示来自各个上述发光粒子的光的信号的区域而获得的光强度数据保存到存储装置中。
5.根据权利要求1至4中的任一项所述的光分析装置,其特征在于,
上述信号处理部在检测出具有大于规定的阈值的强度的表示光的信号时,检测出一个发光粒子进入了上述光检测区域。
6.根据权利要求1至5中的任一项所述的光分析装置,其特征在于,
上述光检测区域移动部使上述光检测区域的位置以比上述发光粒子的扩散移动速度快的速度移动。
7.根据权利要求1至6中的任一项所述的光分析装置,其特征在于,
上述光检测区域移动部通过变更上述光学系统的光路来使上述光学系统的光检测区域的位置在上述样本溶液内移动。
8.根据权利要求1至7中的任一项所述的光分析装置,其特征在于,
上述信号处理部根据检测出的上述发光粒子的个数来决定上述样本溶液中的发光粒子的数密度或浓度。
9.根据权利要求2所述的光分析装置,其特征在于,
上述光检测部通过光子计数检测来自上述光检测区域的光,上述按时间序列的光强度数据是按时间序列的光子计数数据。
10.根据权利要求9所述的光分析装置,其特征在于,
上述光强度的特性值是从上述规定宽度的时间区间内的光子数的合计值、光子数的中央值、光子数的平均值、光子数的标准偏差、光子数的方差、光子数的熵、光子数的最大值以及根据将相关时间设为0的光子数的自相关函数值估算的粒子数的群中选择的值。
11.一种光分析方法,使用共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统检测来自在样本溶液中分散且随机运动的发光粒子的光,该光分析方法的特征在于,包括以下过程:
使上述光学系统的光检测区域的位置在上述样本溶液内移动;
一边使上述光检测区域的位置在上述样本溶液内移动一边检测来自上述光检测区域的光,生成按时间序列的光强度数据;以及
个别地检测上述按时间序列的光强度数据中的每个表示来自各个发光粒子的光的信号,
其中,该光分析方法还包括以下过程:从上述按时间序列的光强度数据中去除上述按时间序列的光强度数据中的不存在表示来自各个上述发光粒子的光的信号的区域。
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