[发明专利]光线路特性分析装置及其分析方法

权利要求书

1.一种光线路特性分析装置，对被测试光线路的特性进行分析，该被测试光线路是通过将基干光纤的一端由光分支器分支为多个系统并且在所述光分支器的分支端部分别光耦合分支光纤的一端而成的，该光线路特性分析装置的特征在于，具有：

测试光脉冲生成单元，产生波长不同的第1测试光和第2测试光，根据该第1测试光和第2测试光生成彼此具有任意的时间差的第1测试光脉冲和第2测试光脉冲并进行合成；

多个光反射滤光器，配置在所述被测试光线路的多个分支光纤各自的另一端，反射所述第1测试光和第2测试光的波长的光，透射除此以外的波长的光；

光循环器，将通过所述测试光脉冲生成单元生成的测试光脉冲入射到所述被测试光线路的基干光纤，提取从该基干光纤的入射端射出的返回光；

滤光器，从所述返回光提取受激布里渊（Brillouin）后向散射光；

光接收器，接收通过所述滤光器提取的散射光而转换为电信号；

转换单元，将所述电信号转换为数字信号；以及

运算处理装置，根据所述数字信号测定所述受激布里渊后向散射光而对所述被测试光线路的特性进行分析，

所述运算处理装置使通过所述测试光脉冲生成单元生成的第1测试光脉冲和第2测试光脉冲的时间差变化，并且测定所述受激布里渊后向散射光。

2.根据权利要求1所述的光线路特性分析装置，其特征在于，

所述第1测试光和第2测试光的频率差相当于在所述被测定光线路内受激布里渊后向散射光产生的布里渊频率偏移量。

3.根据权利要求1所述的光线路特性分析装置，其特征在于，

在设从所述光分支器的分支点到所述光反射滤光器的分支光纤的长度差的最小值为ΔL、光速为c、被测定光纤的折射率为n时，使所述测试光脉冲的脉冲幅τ比2nΔL/c窄。

4.根据权利要求1所述的光线路特性分析装置，其特征在于，

所述运算处理装置进行如下测定：基于所述第1测试光脉冲和第2测试光脉冲的受激布里渊散射的测定；对于所述多个分支光纤各自的距离的布里渊散射光分布的测定；以及所述多个分支光纤各自的受激布里渊散射光到达所述光接收器的时间的测定，

根据这些测定结果对所述多个分支光纤中的个别的损失分布进行分析。

5.根据权利要求1所述的光线路特性分析装置，其特征在于，

所述运算处理装置，

指定所述第1测试光脉冲和第2测试光脉冲的时间差，

等待用于生成所述第1测试光脉冲和第2测试光脉冲的数字信号，

执行分析处理，在存在基于所述第1测试光脉冲的数字信号的输入时，根据该数字信号的到达时间确定是从哪个分支光纤反射的测试光脉冲的数字信号，在根据所得到的数字信号对受激布里渊散射光进行分析之后，输出其分析结果，

在直至来自最长的分支光纤的第2测试光脉冲到达为止进行了待机之后，变更所述第1测试光脉冲和第2测试光脉冲的时间差，重复进行所述分析处理，在设最长的分支光纤长为L、光速为c、被测定光纤的折射率为n时，在判断为所述第1测试光脉冲和第2测试光脉冲的入射时间差与2nL/c相等的情况下，结束一系列的分析处理。

6.一种光线路特性分析方法，对被测试光线路的特性进行分析，该被测试光线路是通过将基干光纤的一端由光分支器分支为多个系统并且在所述光分支器的分支端部分别光耦合分支光纤的一端而成的，该光线路特性分析方法的特征在于，

对根据波长不同的第1测试光和第2测试光生成的彼此具有任意的时间差的第1测试光脉冲和第2测试光脉冲进行合成而生成测试光脉冲，

在所述被测试光线路的多个分支光纤各自的另一端上配置多个光反射滤光器，所述多个光反射滤光器反射所述第1测试光和第2测试光的波长的光，透射除此以外的波长的光，

将所述第1测试光脉冲和第2测试光脉冲入射到所述被测试光线路的基干光纤，

提取从该基干光纤的入射端射出的返回光，

从所述返回光提取受激布里渊（Brillouin）后向散射光，

接收所述提取的散射光而转换为电信号，

将所述电信号转换为数字信号，

使所述第1测试光脉冲和第2测试光脉冲的时间差变化，并且根据所述数字信号测定所述受激布里渊后向散射光，根据其测定结果对所述光线路的特性进行分析。