[发明专利]光线路特性分析装置及其分析方法有效

专利信息
申请号: 201280026981.6 申请日: 2012-05-31
公开(公告)号: CN103582808A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 高桥央;伊藤文彦;樊昕昱;古敷谷优介 申请(专利权)人: 日本电信电话株式会社
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 李亚;穆德骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 线路 特性 分析 装置 及其 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及如下的光线路特性分析装置及其分析方法:例如在PON(Passive Optical Network:无源光网络)型的光线路中,个别地测定通过光分路器分支的各光分支线路的特性。

背景技术

在使用光纤等光线路的光通信系统中,为了检测光线路的破断,或者确定破断位置,使用光脉冲线路监视装置。该光脉冲线路监视装置利用如下原理:伴随光在光线路内的传输,产生与该光相同波长的后向散射光而向反方向传输。

即,当在光线路中作为测试光入射光脉冲时,到该光脉冲到达破断点为止持续产生后向散射光,与测试光相同波长的返回光从入射了光脉冲的光线路的端面射出。通过测定该后向散射光的持续时间,从而能够确定光线路的破断位置。作为基于该原理的监视装置,代表性的装置为OTDR(Optical Time Domain Reflectometer:光时域反射计)。

但是,关于PON(Passive Optical Network)型的光分支线路,很难通过光脉冲线路监视装置从光分路器个别地对位于用户装置侧的分支光纤,或者对光设备(反射式滤光器)、分路器或光纤连接部件等与光线路连接的光装置的状态进行识别。

例如,在从通信运营商设备楼延伸设置的主干线光纤中,通过光分路器而分支为多个光纤,测试光也同样分配到通过光分路器分支的各光纤(以下,称为“分支光纤”)。此时,来自各分支光纤芯线的返回光在回到主干线光纤的入射端时在光分路器中重叠。因此,很难根据在入射端观测的OTDR波形识别在哪个分支光纤上产生破断。

如上所述,现有的光脉冲线路监视装置基本上仅对一个光线路有效,对于光分支线路不能直接应用。因此,公开有能够对光分支线路应用光脉冲线路监视装置的技术(参照非专利文献1、专利文献1)。

在非专利文献1中公开有如下的方法:将反射测试光的滤光器作为端接滤光器(termination filter)设置在用户装置这一边,通过高分辨率的OTDR装置对来自各用户装置的反射光的强度进行测定。并且报告有如下内容:通过该方法,作为比光分路器靠下游的分支光纤中的距离分辨率能够得到2m的精度。

但是,在该方法中,不能达到故障芯线的确定、以及用户装置和光线路中的哪一个故障这一能够进行故障位置的隔离的水平,不能确定在分支光纤的哪个位置上产生故障。

另一方面,在专利文献1中公开有如下内容:作为光分路器,使用基于利用了光的多光束干涉的阵列式波导的衍射光栅型的波分复用器,通过波长可变光源切换测试光的波长而选择被测试光线路。根据该公开的方法,对波长可变光源的波长进行描掠,通过光反射处理部检测反射光的波长,以该波长为基准设定测试光的波长,从而能够对应测试光的波长而实现各光线路的个别监视。

但是,以阵列式波导的衍射光栅型的波分复用器为代表的、具有波长路由功能的光分支装置通常都很昂贵,在成本方面上很难在容纳很多加入者的接入类光系统中使用。而且,由于这种光部件温度依赖性大、还需要附加温度调整功能,因此在构筑系统时所需的成本变得很多。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开平7-87017号公报

非专利文献

非专利文献1:Y.Enomoto et al.,Over31.5dB dynamic range optical fiber line testing system with optical fiber fault isolation function 32dB-branched PON,OFC2003Technical Digest,paper ThAA3(2003),pp.608-610

发明内容

发明所要解决的课题

如以上所述,在以往的基于OTDR的分析中,通过从入射测试光到通过光接收器接收为止的时间求出到入射端的距离。在将该分析方法用于PON型光线路的测定中时,来自存在多个的分支光线路的反射光重叠,很难进行每个分支线路的反射光的分离。因此,虽然公开有将光分支装置用于接入类光系统的技术,但是为了实现该技术需要变更现有的室外光设备的结构,需要巨大的成本。

本发明是鉴于上述问题而完成的,其目的在于,提供一种光线路特性分析装置及其分析方法,不用更换现有的室外设备,能够以低成本精密地、个别地对分支光线路的特性进行分析。

用于解决课题的手段

本发明的光线路特性分析装置具有如下所述方式的结构。

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