[发明专利]目标粒子的检测方法有效
申请号: | 201280029647.6 | 申请日: | 2012-06-27 |
公开(公告)号: | CN103620388A | 公开(公告)日: | 2014-03-05 |
发明(设计)人: | 西川和孝 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;C12Q1/68 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 目标 粒子 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及使用共聚焦显微镜、多光子显微镜的光学系统等能够检测到来自溶液中的微小区域的光的光学体统而检测在试样溶液中分散并随机运动的粒子的方法。
本申请基于2011年6月27日在日本提交的日本特愿2011-142033号主张优先权,本文援引其内容。
背景技术
随着近年来光学测量技术的发展,使用共聚焦显微镜的光学系统和能够进行光子计数(单光子检测)的超高灵敏度的光检测技术,能够检测/测定单光子或单分子荧光水平的微弱光。因此,提出了使用这样的微弱光的检测技术,进行生物分子等分子间相互作用或者分子间的结合/解离反应的检测的各种装置或方法。例如,对于荧光相关光谱分析(Fluorescence Correlation Spectroscopy:FCS。例如,参见专利文献1、2、非专利文献1~3)中,使用激光共聚焦显微镜的光学系统和光子计数技术,测定来自在试样溶液中的微小区域(显微镜的激光聚光而成的焦点区域,被称为共焦体积。)内出入的荧光分子或进行了荧光标记的分子(荧光分子等)的荧光强度。然后基于由测定的荧光强度的自相关函数的值决定的、微小区域内的荧光分子等的平均滞留时间(平移扩散时间)以及滞留的分子个数的平均值,能够取得荧光分子等的运动速度或大小、浓度这类信息,或者检测到分子的结构或大小的变化、分子的结合/解离反应或分散/聚集的各种现象。此外,利用荧光强度分布分析(Fluorescence-Intensity Distribution Analysis:FIDA。例如,专利文献3)或光子计数直方图(Photon Counting Histogram:PCH。例如:专利文献4)与FCS同样地,生成检测到的出入共焦体积内的荧光分子等的荧光强度的直方图,对于该直方图的分布拟合统计学模型式,由此算出荧光分子等固有的明亮度的平均值和滞留于共焦体积内的分子个数的平均值。接着,根据上述信息,推测分子结构或大小的变化、结合/解离状态、分散/聚集状态等。此外,专利文献5、6中提出了:基于使用共聚焦显微镜的光学系统测定出的试样溶液的荧光信号的时程来检测荧光性物质的方法。专利文献7中提出了一种信号运算处理技术,其用于:使用光子计数技术,测量在流式细胞仪内流过的荧光微粒或固定在基板上的荧光微粒所发出的微弱光,检测液流中或基板上存在的荧光粒子。
特别的是,通过应用FCS、FIDA等、使用了共聚焦显微镜的光学系统和光子计数技术的微小区域的荧光测定技术的方法,测定所必需的试样的浓度比以前低得多且可以是微量(每次测定使用的量最多数十μL左右。另外,测定时间大幅地缩短(每次测定中可重复进行数次的秒数量级时间的测定))。因此,特别在对于医学/生物学的研究开发领域中经常使用的稀少或高价的试样进行分析的情况下或者在疾病的临床诊断、生理活性物质的筛选等被检体多的情况下,这些技术与现有的生物化学的方法相比较,可以期待用作能够低廉或迅速地进行实验或检测的强有力的工具。
另一方面,解析对象为核酸分子的情况下,已知有在检测作为目标对象的核酸分子之前,提高试样溶液中的核酸浓度的技术。已知例如,使溶剂由试样溶液蒸发浓缩之后,由该试样溶液测定目标核酸分子的方法(参照例如:专利文献8。)。另外,已知有使用具有将目标的成分分离/浓缩的旋转机构、和为了测定该特定的成分的浓度进行荧光发光检测的检测机构的化学分析装置,测定前述试样溶液中的核酸浓度的方法(参照例如专利文献9。)。除了将试样溶液进行浓缩的方法以外,也可以通过从试样溶液中分离/精制核酸分子,而提高核酸浓度。作为该方法,已知有例如,通过向试样中添加阴离子性洗剂和离液盐而使核酸分子沉淀,回收核酸分子被浓缩而成的沉淀物的方法(参照例如专利文献10。)。另外,使用将核酸分子固定化的膜、阴离子交换基质,捕捉试样中的核酸分子之后,从该膜或基质将核酸分子放出的方法(参照例如专利文献11或12。)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2005-098876号公报
专利文献2:日本特开2008-292371号公报
专利文献3:日本专利第4023523号公报
专利文献4:国际公开2008-080417号公报
专利文献5:日本特开2007-20565号公报
专利文献6:日本特开2008-116440号公报
专利文献7:日本特开平4-337446号公报
专利文献8:日本特开2008-000045号公报
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