[发明专利]多腔室CVD处理系统无效
申请号: | 201280035420.2 | 申请日: | 2012-07-02 |
公开(公告)号: | CN103703544A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | A·帕兰杰佩;E·A·阿莫尔;W·E·奎恩 | 申请(专利权)人: | 维易科精密仪器国际贸易(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 王初 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 多腔室 cvd 处理 系统 | ||
这里使用的章节标题仅用于行文组织方面的目的,不应该解释成按任何方式限制在本申请中描述的主题。
相关申请章节
本申请是在2009年6月7日提交的、标题为“Continuous Feed Chemical Vapor Deposition System”的美国专利申请12/479,834的部分继续申请。美国专利申请12/479,834的全部说明书通过参考包括在里。
背景技术
化学气相沉积(CVD)涉及将包含化学物质的一种或更多种气体引导到基片的表面上,从而使活性物质反应,并且在基片的表面上形成薄膜。例如,CVD可以用来在结晶半导体基片上生长化合物半导体材料。化合物半导体,如III-V半导体,通常通过使用III族金属的源和V族元素的源在基片上生长各个半导体材料层而形成。在一种CVD过程中,这种CVD过程有时称作氯化过程,将III族金属提供成金属的易挥发卤化物,该易挥发卤化物最普通地是氯化物,如GaCl2,并且将V族元素提供成V族元素的氢化物。
另一种类型的CVD是金属有机化学气相沉积(MOCVD)。MOCVD使用化学物质,这些化学物质包括一种或更多种金属有机化合物,如诸如镓、铟、以及铝之类的III族金属的烷基。MOCVD也使用化学物质,这些化学物质包括V族元素的一种或更多种的氢化物,如NH3、AsH3、PH3及锑的氢化物。在这些过程中,气体在基片(如蓝宝石、Si、SiC、SiGe、AlSiC、GaAs、InP、InAs或GaP的基片)的表面处相互反应,以形成通式InXGaYAlZNAAsBPCSbD的III-V化合物,其中,X+Y+Z近似等于一,并且A+B+C+D近似等于一,而X、Y、Z、A、B、以及C中的每一个都可以在零与一之间。在一些情况下,铋可以用来代替其它III族金属的一些或全部。多种化合物半导体,如GaAs、GaN、GaAlAs、InGaAsSb、InP、AsP、ZnSe、ZnTe、HgCdTe、InAsSbP、InGaN、AlGaN、SiGe、SiC、ZnO及InGaAlP,一直由MOCVD生长。
另一种类型的CVD称作卤化物汽相晶体取向附生(HVPE)。在一种HVPE过程中,III族氮化物(例如GaN、AlN)通过使热气态金属氯化物(例如GaCl、AlCl)与氨气(NH3)反应而形成。金属氯化物通过使热HCl气体在热的III族金属上通过而产生。全部反应在调温石英炉中进行。HVPE的一个特征是,它可以具有非常高的生长速率,对于一些现有技术过程高达每小时100μm。HVPE的另一个特征是,它可以用来沉积比较高质量的薄膜,因为薄膜在无碳环境中生长,并且因为热HCl气体提供自清洁作用。
发明内容
本讲授涉及一种多腔室CVD处理系统,这种多腔室CVD处理系统包括:多个基片载体,每个基片载体用于支承至少一个基片;多个外壳,多个外壳中的每一个外壳构造成用以形成一个沉积腔室,该沉积腔室包围多个基片载体中的一个基片载体,以保持用来执行处理步骤的独立环境;以及运输机构,所述运输机构按离散步骤将多个基片载体中的每一个基片载体运输到多个外壳中的每一个外壳,这允许在多个外壳中在预设定时间内执行处理步骤。多腔室CVD系统另外可以包括多个加热器,多个加热器中的每一个加热器与多个外壳中的每一个外壳相对应。多腔室CVD系统另外可以包括现场测量装置,该现场测量装置放置在多个外壳中的至少一个外壳中。运输机构另外可以包括多个加热器,多个加热器中的每一个加热器接近多个基片载体中的每一个基片载体。运输机构可以使用例如导轨、轨道或传送系统在直线或非直线路径中运输多个基片载体中的每一个基片载体,该传送系统也可以包括带、推杆、以及磁性耦合驱动器,如磁性直线马达。在一些实施例中,在多腔室CVD系统中的多个基片载体中的至少一个基片载体是可转动的。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于维易科精密仪器国际贸易(上海)有限公司,未经维易科精密仪器国际贸易(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201280035420.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:轴向外螺纹滚压工具
- 下一篇:一种特厚壁无缝管的热处理方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造