[发明专利]紫外线发光二极管用多量子阱及其制造方法在审
申请号: | 201280035692.2 | 申请日: | 2012-07-16 |
公开(公告)号: | CN103703576A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | 赵炳求;闵在植;权世薰 | 申请(专利权)人: | 芯片科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/04 | 分类号: | H01L33/04;H01L33/06 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 郭放;许伟群 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 紫外线 发光 二极 管用 多量 及其 制造 方法 | ||
1.一种紫外线发光二极管用多量子阱,其包括:
Alx1Ga1-x1N势垒部,其交替配置有AlN势垒原子层和所述AlN势垒原子层上的GaN势垒原子层;以及
Alx2Ga1-x2N量子阱部,其在所述Alx1Ga1-x1N势垒部上形成并交替配置有AlN阱原子层和在所述AlN阱原子层上形成的GaN阱原子层,
其中,所述Alx1Ga1-x1N势垒部的Al组成比(x1)为0至0.7,所述Alx2Ga1-x2N量子阱部的Al组成比(x2)为0至0.7,所述Alx1Ga1-x1N势垒部的Al组成比(x1)大于所述Alx2Ga1-x2N量子阱部的Al组成比(x2),所述Alx1Ga1-x1N势垒部与所述Alx2Ga1-x2N量子阱部交替层叠2次以上。
2.根据权利要求1所述的紫外线发光二极管用多量子阱,其中,
所述Alx1Ga1-x1N势垒部的厚度为3至10nm。
3.根据权利要求1所述的紫外线发光二极管用多量子阱,其中,
所述Alx1Ga1-x1N势垒部的位错(dislocation)密度为104~106ea/cm2。
4.根据权利要求1所述的紫外线发光二极管用多量子阱,其中,
所述Alx2Ga1-x2N量子阱部的厚度为1至3nm。
5.根据权利要求1所述的紫外线发光二极管用多量子阱,其中,
所述Alx2Ga1-x2N量子阱部的位错(dislocation)密度为104~106ea/cm2。
6.根据权利要求1所述的紫外线发光二极管用多量子阱,其中,
所述Alx2Ga1-x2N量子阱部的个数为2至10。
7.一种紫外线发光二极管用多量子阱的制造方法,其中,包括:
Alx1Ga1-x1N势垒部形成步骤,交替层叠AlN势垒原子层和所述AlN势垒原子层上的GaN势垒原子层,来形成Alx1Ga1-x1N势垒部;以及
Alx2Ga1-x2N量子阱部形成步骤,在所述Alx1Ga1-x1N势垒部上交替地层叠AlN阱原子层和所述AlN阱原子层上的GaN阱原子层,来形成Alx2Ga1-x2N量子阱部,
其中,所述Alx1Ga1-x1N势垒部的Al组成比(x1)形成为0至0.7,所述Alx2Ga1-x2N量子阱部的Al组成比(x2)形成为0至0.7,所述Alx1Ga1-x1N势垒部的Al组成比(x1)形成得大于所述Alx2Ga1-x2N量子阱部的Al组成比(x2),所述Alx1Ga1-x1N势垒部与所述Alx2Ga1-x2N量子阱部交替层叠2次以上。
8.根据权利要求7所述的紫外线发光二极管用多量子阱的制造方法,其中,
所述Alx1Ga1-x1N势垒部的厚度形成为3至10nm。
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