[发明专利]具有保护膜形成层的切割膜片和芯片的制造方法在审
申请号: | 201280044503.8 | 申请日: | 2012-09-27 |
公开(公告)号: | CN103797567A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 篠田智则;古馆正启;高野健 | 申请(专利权)人: | 琳得科株式会社 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;H01L21/683;H01L21/78;H01L23/544;C09J7/40;C09J201/00 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 张永康;向勇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 保护膜 形成层 切割 膜片 芯片 制造 方法 | ||
1.一种具有保护膜形成层的切割膜片,其具有基材膜、粘着剂层和保护膜形成层,
并且,粘着剂层,以平面视至少形成于包围保护膜形成层的区域,
并且,基材膜包括聚丙烯膜,
并且,基材膜包括如下(a)~(c)的特性:
(a)熔点超过130℃,或者不具有熔点、
(b)以130℃加热2小时时的热收缩率为-5~+5%、
(c)MD方向及CD方向的断裂伸长率为100%以上,25%应力为100MPa以下。
2.如权利要求1所述的具有保护膜形成层的切割膜片,其中,保护膜形成层是热固化性。
3.如权利要求1或2所述的具有保护膜形成层的切割膜片,其中,保护膜形成层包含胶合剂高分子成分(A)和固化性成分(B)。
4.如权利要求1或2所述的具有保护膜形成层的切割膜片,其中,
保护膜形成层含有着色剂(C),
并且,在波长300~1200nm时的保护膜形成层的最大穿透率为20%以下。
5.如权利要求1或2所述的具有保护膜形成层的切割膜片,其中,
在基材膜和粘着剂层构成的粘着膜片的粘着剂层上,具有保护膜形成层,
保护膜形成层形成于粘着膜片的内周部,
粘着剂层露出于粘着膜片的外周部。
6.如权利要求1或2所述的具有保护膜形成层的切割膜片,其中,其由基材膜、形成于基材膜的内周部的保护膜形成层、和形成于基材膜的外周部的粘着剂层构成。
7.一种芯片的制造方法,其将权利要求5所述的具有保护膜形成层的切割膜片的保护膜形成层粘贴于工件,并且按照[(1),(2),(3)]、[(2),(1),(3)]或[(2),(3),(1)]中的任一顺序进行下述工序(1)~(3):
工序(1):固化保护膜形成层得到保护膜;
工序(2):切割工件,且切割保护膜形成层或保护膜;
工序(3):剥离保护膜形成层或保护膜,且剥离粘着膜片。
8.一种芯片的制造方法,其将权利要求6所述的具有保护膜形成层的切割膜片的保护膜形成层粘贴于工件,并且按照[(1),(2),(3)]、[(2),(1),(3)]或[(2),(3),(1)]中的任一顺序进行下述工序(1)~(3):
工序(1):固化保护膜形成层得到保护膜;
工序(2):切割工件,且切割保护膜形成层或保护膜;
工序(3):剥离保护膜形成层或保护膜,且剥离基材膜。
9.如权利要求7或8所述的芯片的制造方法,其中,保护膜形成层是热固化性,并且按照[(1),(2),(3)]或[(2),(1),(3)]的顺序进行工序(1)~(3)的各工序。
10.如权利要求9所述的芯片的制造方法,其中,在上述工序(1)之后的任一工序中,进行下述工序(4):
工序(4):在保护膜的表面以激光刻印法刻印。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于琳得科株式会社,未经琳得科株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201280044503.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造