[发明专利]闪烁器阵列、使用了该闪烁器阵列的X射线检测器以及X射线检查装置

说明书

技术领域

本发明的实施方式涉及闪烁器阵列、使用了该闪烁器阵列的X射线检测器以及X射线检查装置。

背景技术

在医疗诊断、工业用非破坏检查的领域中，使用了X射线断层图像摄影装置(X射线CT装置)那样的X射线检查装置。X射线CT装置具有以被检体的断层面为中央而相向配置了照射扇状的扇形波束X射线的X射线管(X射线源)和将许多X射线检测元件进行了并排配置的X射线检测器的构造。在X射线CT装置中，针对被检体，从X射线管照射扇形波束X射线，用X射线检测器来收集透射了被检体的X射线吸收数据。用计算机来解析由X射线检测器收集了的X射线吸收数据。具体而言，进行断层面的各个位置处的X射线吸收率的计算、以及与X射线吸收率对应的图像的重构。由此，再生被检体的断层像。

作为X射线CT装置的X射线检测器，大多使用具有通过X射线的刺激来放射可见光的固体闪烁器的检测器。在使用了固体闪烁器的X射线检测器中，易于使X射线检测元件小型化而增加通道数，所以能够进一步提高X射线CT装置的分辨率。作为固体闪烁器，已知各种物质，特别是由Gd₂O₂S：Pr那样的稀土类硫氧化物的烧结体形成的陶瓷闪烁器有效。关于由稀土类硫氧化物的烧结体形成的陶瓷闪烁器，X射线吸收系数大，所以发光效率优良，另外由于残光(余辉)短，所以作为X射线检测器用的闪烁器是优选的。

关于构成陶瓷闪烁器的稀土类硫氧化物荧光体的烧结体(荧光体陶瓷)，为了实现光输出的提高、烧结体的高密度化、机械强度的提高等，提出了各种提案。例如，通过控制陶瓷闪烁器(烧结体)中的磷量来改进光输出。但是，对于陶瓷闪烁器，要求进一步提高光输出。闪烁器的光输出的提高取决于利用X射线检查装置的检查时间的缩短化、即低辐射化。为了提高光输出，作为有效的手段，可以举出闪烁器材料的改进。而且，在陶瓷闪烁器中应用在多个闪烁器模块之间存在反射层的阵列构造的情况下，作为用于提高光输出的有力的手段，还可以举出反射层的改进。

作为以往的闪烁器阵列，已知如下构造：在邻接的闪烁器模块之间存在放射线遮蔽板，并且用包含氧化钛粉末的粘接剂层将闪烁器模块粘接到放射线遮蔽板。在闪烁器模块之间存在的放射线遮蔽板以及包含氧化钛粉末的粘接剂层对提高从闪烁器模块放射了的可见光的反射效率作出贡献。但是，在使用了放射线遮蔽板和包含氧化钛粉末的粘接剂层这两方的情况下，无法避免闪烁器阵列的制造成本增加。而且，在将闪烁器模块粘接到放射线遮蔽板的粘接剂层中，作为氧化钛粉末，使用了平均粒径是1μm以下的微细粉末。微细粉末状的氧化钛在粘接剂层中易于凝集，由此粘接剂层的反射效率降低。根据这样的点，在以往的闪烁器阵列中同时使用了放射线遮蔽板。

专利文献1：日本专利第4266114号公报

专利文献2：日本专利第3104696号公报

发明内容

本发明想要解决的课题在于，提供一种通过提高使氧化钛粉末等在树脂中分散而构成的反射层部的反射效率从而能够提高光输出的闪烁器阵列、使用了该闪烁器阵列的X射线检测器以及X射线检查装置。

实施方式的闪烁器阵列具备多个闪烁器模块、以及为了使多个闪烁器模块一体化而在邻接的闪烁器模块之间存在的反射层部。反射层部具有在透明树脂内分散了的反射粒子。反射粒子包含从氧化钛粒子以及氧化钽粒子选择的至少一种，并且具有2μm以下的平均粒径。在反射层部的每5μm×5μm的单位面积中存在的反射粒子的个数是100个以上且250个以下的范围。

附图说明

图1是示出实施方式的闪烁器阵列的剖面图。

图2是示出实施方式的闪烁器阵列的俯视图。

图3是示出实施方式的X射线检测器的剖面图。

图4是示出实施方式的X射线检测器的变形例的剖面图。

图5是示出实施方式的X射线检查装置的概念图。

图6是示出实施方式的闪烁器阵列的制造工序的一个例子的剖面图。

图7是示出实施方式的闪烁器阵列的其它例子的剖面图。

图8是将图7所示的闪烁器阵列的角部的形状进行放大而示出的剖面图。

具体实施方式