[发明专利]导电性构件、处理盒和电子照相设备

说明书

技术领域

本发明涉及导电性构件、使用所述导电性构件的处理盒和电子照相图像形成设备(下文中称作电子照相设备)。

背景技术

要用于电子照相设备中的充电辊等的辊形状的导电性构件(下文中有时称作导电性辊)设置有挠性层，从而在导电性构件和抵接构件如电子照相感光构件之间获得适当的辊隙宽度(nip width)。此类挠性层的实例为含有气泡的多孔橡胶层。在该情况下，橡胶层中的气泡通过例如添加发泡剂或中空颗粒而形成。

同时，在设置有此类橡胶层的导电性辊在与抵接构件抵接的状态下长期静止放置的情况下，可在抵接部发生不容易恢复的应变，即永久压缩变形或压缩永久变形(下文中有时称作C永久变形)。特别地，在高温高湿环境中，C永久变形的量易于增加。

在电子照相感光构件通过使用其中发生C永久变形的充电辊作为充电辊来充电的情况下，在其中已发生C永久变形的部分(下文中称作C永久变形部)通过放电区域时，在导电性辊的表面与电子照相感光构件的表面之间的间隙中产生的放电变得不稳定。即，在导电性构件的C永久变形部和其中未发生C永久变形的部分之间产生充电能力的差异。结果，可在与导电性构件的C永久变形部对应的部位形成图像浓度具有条纹状不均匀的电子照相图像(下文中称作C永久变形图像)。

作为能够缓解由上述现象引起的C永久变形的充电构件，专利文献1公开了一种充电构件，其由导电性发泡体形成并具有根据部位变化的平均气泡直径。

引用列表

专利文献

专利文献1：日本专利申请特开2006-154441号公报

发明内容

发明要解决的问题

本发明的发明人研究了根据专利文献1的充电构件，并证实了对C永久变形的一定的抑制效果。然而，近年来，本发明的发明人意识到，必须开发其中几乎不另外发生C永久变形的充电构件，从而满足电子照相设备的高速化、高画质化和高耐久化的需要。

本发明的目的在于提供其中几乎不发生C永久变形的导电性构件。本发明的目的还在于提供能够稳定地形成高品质电子照相图像的处理盒和电子照相设备。

用于解决问题的方案

根据本发明的一个方面，提供有一种导电性构件，其包括导电性基体和弹性层，其中：所述弹性层包括内包有颗粒的独立空孔(closed cell)；并且所述颗粒不固定于独立空孔的内壁。

根据本发明的另一方面，还提供有一种处理盒，其包括上述导电性构件和与导电性构件一体化的被充电体，所述处理盒可拆卸地安装至电子照相设备的主体。根据本发明，还提供包括上述导电性构件和被充电体的电子照相设备。

发明的效果

根据本发明，可获得其中抑制C永久变形的发生的导电性构件。另外，根据本发明，可获得能够稳定地形成高品质电子照相图像的处理盒和电子照相设备。

附图说明

图1A为根据本发明实施方案的辊形状的导电性构件的截面图。

图1B为根据本发明另一实施方案的辊形状的导电性构件的截面图。

图2为本发明中的弹性层的截面图。

图3A为示出根据本发明的内包有颗粒的独立空孔的实施方案的示意图。

图3B为示出根据本发明的内包有颗粒且具有壳的独立空孔的实施方案的示意图。

图4A为说明本发明中导电性辊的导电性树脂层的厚度的测定位置的沿轴向的示意性截面图。

图4B为说明本发明中导电性辊的导电性树脂层的厚度的测定位置的沿与轴向垂直的方向的示意性截面图。

图5为导电性辊的电阻的测定方法的说明图。

图6为根据本发明的电子照相设备的示意图。

图7为根据本发明的处理盒的示意图。

图8为设置有十字头的挤出机的示意图。

图9为根据本发明导电性辊的制造用模具的说明图。

图10为示出导电性辊与电子照相感光构件之间的抵接状态的示意图。

具体实施方式