[发明专利]层积结构体有效
| 申请号： | 201280061820.0 | 申请日： | 2012-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN103998229A | 公开（公告）日： | 2014-08-20 |
| 发明（设计）人： | 中井祐介;牧野伸治 | 申请（专利权）人： | 三菱丽阳株式会社 |
| 主分类号： | B32B7/06 | 分类号： | B32B7/06;B32B3/30;G02B1/11;G02F1/1335;G09F9/00 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 刘香兰 |
| 地址： | 日本东京都千*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 层积 结构 | ||
1.一种层积结构体，其具有：表面具有微细凹凸结构的物品，以及与所述物品的微细凹凸结构侧的表面相接触的粘合膜，
所述微细凹凸结构的凸部之间的平均间隔为400nm以下，
根据JIS Z0237：2009按下述方法测定的所述粘合膜的低速剥离力P，为0.01N/25mm以上、不足2.5N/25mm，
根据JIS Z0237：2009按下述方法测定的所述粘合膜的高速剥离力Q与低速剥离力P的比，即高速剥离力Q/低速剥离力P小于2，
剥离力的测定方法1：
以使与所述物品的微细凹凸结构侧的表面相接触一侧的所述粘合膜的表面与丙烯酸树脂板的表面相接触的方式，将所述粘合膜载于所述丙烯酸树脂板的表面，将2kg的辊在所述粘合膜上往返一次，使所述粘合膜贴合在所述丙烯酸树脂板的表面，在23℃恒温下放置30分钟之后，若测定低速剥离力P则以0.3m/分的剥离速度，若测定高速剥离力Q则以10m/分的剥离速度，将所述粘合膜以相对于所述丙烯酸树脂板的表面180°进行剥离，测定该剥离所需要的剥离力。
2.根据权利要求1所述的层积结构体，所述粘合膜的低速剥离力P为1.0N/25mm以下。
3.根据权利要求1所述的层积结构体，通过下述方法测定的所述粘合膜的高速剥离力S与低速剥离力R的比，即高速剥离力S/低速剥离力R为2以下，
剥离力的测定方法2：
以使与所述物品的微细凹凸结构侧的表面相接触一侧的所述粘合膜的表面与所述物品的微细凹凸结构侧的表面相接触的方式，将所述粘合膜载于所述物品的的表面，将2kg的辊在所述粘合膜上往返一次，使所述粘合膜贴合在所述微细凹凸结构侧的表面，在23℃恒温下放置30分钟之后，若测定低速剥离力R则以0.3m/分的剥离速度，若测定高速剥离力S则以10m/分的剥离速度，将所述粘合膜以相对于所述微细凹凸结构侧的表面180°进行剥离，测定该剥离所需要的剥离力。
4.根据权利要求1～3的任一项所述的层积结构体，所述微细凹凸结构是由阳极氧化铝的微细凹凸结构转印而成。
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