[发明专利]用于光伏器件的混合型接触件和光伏器件的形成方法无效
申请号: | 201280062486.0 | 申请日: | 2012-10-16 |
公开(公告)号: | CN104321882A | 公开(公告)日: | 2015-01-28 |
发明(设计)人: | 赵志波;本雅明·布勒;李政昊;马库斯·格勒克勒;大卫·黄;斯科特·米尔斯;邵锐 | 申请(专利权)人: | 第一太阳能有限公司;赵志波;本雅明·布勒;李政昊;马库斯·格勒克勒;大卫·黄;斯科特·米尔斯;邵锐 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/18;H01L31/048 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 尹淑梅 |
地址: | 美国俄亥俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 器件 混合 接触 形成 方法 | ||
1.一种用于光伏器件的接触件,所述接触件包括:
光伏器件的透明导电氧化物堆叠件,其中,透明导电氧化物堆叠件的第一部分通过常压化学气相沉积形成,透明导电氧化物堆叠件的第二部分通过物理气相沉积形成。
2.如权利要求1所述的接触件,其中,透明导电氧化物堆叠件包括阻挡层、透明导电氧化物层和缓冲层。
3.如权利要求2所述的接触件,其中,阻挡层通过常压化学气相沉积形成,透明导电氧化物层和缓冲层通过物理气相沉积形成。
4.如权利要求1所述的接触件,其中,接触件是光伏器件的前接触件。
5.如权利要求2所述的接触件,其中,缓冲层包括SiO2。
6.如权利要求2所述的接触件,其中,透明导电氧化物层是从由F-SnO2、Cd2SnO4、ITO、CIO和ZAO组成的组中选择的。
7.如权利要求2所述的接触件,其中,缓冲层是从由SnO2、ZnO、In2O3和ZnSnxOy组成的组中选择的。
8.如权利要求2所述的接触件,其中,缓冲层具有大约5nm至大约50nm的表面粗糙度均值。
9.如权利要求2所述的接触件,其中,阻挡层包括形成在具有大约2.0至大约2.4的折射率的第二材料上方的具有大约1.45至大约1.50的折射率的第一材料。
10.如权利要求9所述的接触件,其中,阻挡层的第一材料是从由SiO2、SiAlxOy和Al2O3组成的组中选择的。
11.如权利要求9所述的接触件,其中,阻挡层的第二材料是从由SiNx、SnO2、TiO2、Ta2O5和Nb2O5组成的组中选择的。
12.如权利要求1所述的接触件,所述接触件还包括通过物理气相沉积形成在透明导电氧化物堆叠件的第一部分上方的粘结层。
13.如权利要求12所述的接触件,其中,粘结层是从由SiO2和SiAlxOy组成的组中选择的。
14.如权利要求9所述的接触件,所述接触件还包括通过物理气相沉积形成在阻挡层上方的粘结层。
15.如权利要求14所述的接触件,其中,粘结层是从由SiO2和SiAlxOy组成的组中选择的。
16.如权利要求2所述的接触件,其中,阻挡层具有大约至大约的厚度。
17.如权利要求9所述的接触件,其中,阻挡层的第一材料具有大约至大约的厚度,阻挡层的第二材料具有大约至大约的厚度。
18.如权利要求2所述的接触件,其中,透明导电氧化物层具有大约至大约的厚度。
19.如权利要求2所述的接触件,其中,缓冲层具有大约至大约的厚度。
20.如权利要求12所述的接触件,其中,粘结层具有大约至大约的厚度。
21.如权利要求9所述的接触件,所述接触件还包括位于阻挡层下方的从由SiO2、SiAlxOy和Al2O3组成的组中选择的APCVD沉积的材料。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的