[发明专利]元件安装机有效
申请号: | 201280075011.5 | 申请日: | 2012-08-01 |
公开(公告)号: | CN104509235B | 公开(公告)日: | 2017-04-26 |
发明(设计)人: | 山荫勇介;吉野朋治 | 申请(专利权)人: | 富士机械制造株式会社 |
主分类号: | H05K13/04 | 分类号: | H05K13/04;H05K13/08 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人: | 穆德骏,谢丽娜 |
地址: | 日本爱知*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 元件 装机 | ||
技术领域
本发明涉及元件安装机,能够同时拍摄设于元件安装头的摄像基准部和由吸嘴吸附的吸附元件,来检测吸附元件相对于摄像基准部的位置。
背景技术
在元件安装机中,同时拍摄设于元件安装头的摄像基准部和吸附元件,根据拍摄到的图像来检测吸附元件的位置偏差、角度偏差。并且,基于位置偏差、角度偏差的检测结果,来校正吸附元件的安装位置。
另外,在元件安装机中,为了缩短元件的安装所需的节拍时间,而实现了元件安装头的移动速度的高速化。当提高元件安装头的移动速度时,摄像时的曝光时间缩短,因此需要打开相机的光圈,增大相机的受光量。然而,当打开相机的光圈时,相机的拍摄视野深度变浅,难以使焦点与摄像基准部和吸附元件这双方对准。这种情况在同时拍摄厚度不同的吸附元件的情况下也同样。
作为与这样的课题相关的发明,已知有例如专利文献1及专利文献2记载的发明。专利文献1记载的位置检测装置在比吸附移液管所吸附的元件靠上方的安装头侧具备位置标记装置及光学性成像装置,且在元件的附近具备磨砂玻璃。并且,经由光学性成像装置将位置标记装置投影于磨砂玻璃上,来拍摄位置标记装置和元件。
专利文献2记载的第一发明的表面安装机在比相机的焦点位置高的位置具备基准标记和透镜,透镜能够将相机的焦点位置向上方延长至基准标记的高度。而且,专利文献2记载的第二发明的表面安装机将使相机的焦点对准基准标记的透镜设置在相机侧,且具备促动器,在基准标记通过相机的上方时,该促动器使透镜向相机的摄像范围内移动,在安装用元件通过相机的上方时,该促动器使透镜退到相机的摄像范围外。另外,专利文献2记载的相机使用CCD线性传感器作为摄像元件,能够一维地拍摄安装用元件、基准标记。
专利文献1:日本特表2001-518723号公报
专利文献2:日本特开2005-197564号公报
发明内容
然而,在专利文献1记载的发明中,光学性成像装置设置在安装头侧,安装头的结构变得复杂,安装头变得大型化、重量化。而且,在安装头移动时,存在光学性成像装置、磨砂玻璃与元件发生干扰的可能性。关于前者,对于专利文献2记载的第一发明也同样。
专利文献2记载的第二发明通过促动器来使透镜向相机的摄像范围内或摄像范围外移动,无法同时拍摄基准标记和安装用元件。而且,在专利文献2记载的第二发明中,伴随着具备基准标记的头单元的移动而需要使促动器驱动,控制变得复杂。
此外,专利文献2记载的相机使用CCD线性传感器作为摄像元件,因此无法进行二维的摄像。例如,在回转头中,将多个吸嘴保持为能够在与轴线同心的圆周上转动,使各吸嘴分别吸附保持安装用元件。在这样的情况下,在CCD线性传感器中,无法同时拍摄基准标记和多个安装用元件。
本发明鉴于这样的情况而作出,课题在于提供一种元件安装机,在使元件安装头移动而进行摄像时,能够防止同时拍摄摄像基准部和吸附元件的光学系统与吸附元件发生干扰,并能够使元件安装头轻量化。
第一方案记载的元件安装机具备:元件安装头,具有吸附元件而将该元件向基板安装的吸嘴;及吸附元件位置检测装置,同时拍摄设于上述元件安装头的摄像基准部和由上述吸嘴吸附的吸附元件,来检测上述吸附元件相对于上述摄像基准部的位置,上述元件安装机的特征在于,上述吸附元件位置检测装置具备:摄像部,设于上述元件安装机的基台侧且具有摄像元件及透镜;及第一折射部件,变更将上述摄像元件、上述透镜及上述摄像基准部连接的第一光路的焦点位置,上述第一折射部件设于比将上述摄像元件、上述透镜及上述吸附元件连接的第二光路的焦点位置低且靠上述基台侧的位置。
第二方案记载的元件安装机以第一方案记载的元件安装机为基础,上述吸附元件位置检测装置具备变更上述第二光路的焦点位置的第二折射部件,上述第二折射部件设于比上述第二光路的焦点位置低且靠上述基台侧的位置。
第三方案记载的元件安装机以第二方案记载的元件安装机为基础,上述元件安装头是将多个上述吸嘴保持为能够在与轴线同心的圆周上转动的回转头,根据上述圆周的直径不同的多个上述元件安装头的上述吸附元件的高度,将多个上述第二折射部件配置成同心圆状。
第四方案记载的元件安装机以第一至第三方案中任一方案记载的元件安装机为基础,上述吸附元件位置检测装置具备向上述摄像基准部及上述吸附元件照射光的光源,上述第一折射部件设于比上述光源靠上述摄像部侧的位置。
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