[发明专利]藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法有效
申请号: | 201310006116.1 | 申请日: | 2013-01-08 |
公开(公告)号: | CN103376963A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | 徐日明;郭锦华 | 申请(专利权)人: | 矽统科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 藉由 投影 数据 减少 水渍 容忍 计算 方法 | ||
1.一种藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,所述方法包含下列步骤:
取得具有列感应线与行感应线的感应阵列的电容原始数据;
比较所述电容原始数据与参考原始数据以取得差异阵列;
藉由撷取所述差异阵列的列的最小值以取得一列投影表列;以及
藉由撷取所述差异阵列的行的最小值以取得一行投影表列。
2.如权利要求1所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,其中藉由计算每条所述列感应线与每条所述行感应线的自电容,以取得所述感应阵列的所述目前原始数据。
3.如权利要求1所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,其中藉由计算在所述列感应线与所述行感应线间的互电容,取得所述感应阵列的所述目前原始数据。
4.如权利要求1所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,其中所述参考原始数据包含一电容矩阵,而在所述感应阵列上没有触碰或水渍区块产生的情况下,藉由一统计模型计算所述电容矩阵。
5.如权利要求4所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,其中藉由使用一静态校准程序计算所述参考原始数据。
6.如权利要求4所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,其中藉由使用一动态校准程序计算所述参考原始数据。
7.如权利要求1所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,更包含藉由所述列投影表列与所述行投影表列决定至少一矩形水渍区块的步骤。
8.如权利要求7所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,其中藉由所述列投影表列与所述行投影表列决定至少一矩形水渍区块的所述步骤分别比较所述列投影表列与一第一水渍临限值与比较所述行投影表列与一第二水渍临限值,形成一列水渍区与一行水渍区以决定所述水渍区块的一范围。
9.如权利要求8所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,其中若在所述水渍区块的一感应线的一感应讯号低于所述水渍临限值,则所对应的所述列水渍区或所述行水渍区等于1,反之,若在所述水渍区块的所述感应线的所述感应讯号高于所述水渍临限值,则所对应的所述列水渍区或所述行水渍区等于0。
10.如权利要求9所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,其中若在所述水渍区块的所述相邻列感应线的数量高于一列临限值,且在所述水渍区块的所述相邻行感应线的数量高于一行临限值,则可过滤或忽略在所述水渍区块的所述感应讯号。
11.如权利要求9所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,其中若在所述水渍区块的所述相邻列感应线的数量乘上所述相邻行感应线的数量高于一区域临限值,则可过滤或忽略在所述水渍区块所产生的所述感应讯号。
12.如权利要求1所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,更包含逐一过滤在所述矩形水渍区块的假性触碰区块的步骤,其藉由互电容侦测装置从复数个所述水渍区块过滤假性水渍区块来完成。
13.如权利要求1所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,更包含在所述真实水渍区块上的防止动态校准的步骤,当所述水渍为干枯时,防止所述真实水渍区块被误认为感应讯号或水渍区块。
14.如权利要求1所述的藉由投影触控数据减少水渍容忍计算的方法,更包含:藉由结合一局部空间边界侦测算法的装置,侦测在所述矩形水渍区块内但超出所述真实水渍区块的所述感应讯号。
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