[发明专利]玻璃基板的缺陷检测方法

权利要求书

1.一种玻璃基板的缺陷检测方法，其特征在于：所述缺陷检测方法包含步骤：撷取一玻璃基板的一检测影像图，所述检测影像图显示所述玻璃基板上的多个缺陷；

将所述检测影像图区分成一第一区域及一第二区域；

仅检测判断位于所述检测影像图的第一区域中的缺陷是否分别需要进行修补；以及

仅针对位于所述检测影像图的第一区域中且判断需要进行修补的缺陷进行修补动作。

2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于：所述玻璃基板是一液晶显示器的一薄膜晶体管阵列基板。

3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于：所述第一区域是所述玻璃基板中的电路区域，所述电路区域包含晶体管电路。

4.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于：所述电路区域另包含扫描线、数据线或储存电容。

5.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于：所述第二区域是所述玻璃基板中的像素电极区域。

6.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于：在检测判断的步骤中，根据至少一种缺陷资讯检测判断所述第一区域中的各缺陷是否分别需要进行修补，所述缺陷资讯包含：一位置座标资讯以及一缺陷大小资讯。

7.如权利要求6所述的缺陷检测方法，其特征在于：在根据所述位置座标资讯进行检测时，若所述缺陷完全位在所述第一区域中或至少一部份位在所述第一区域中，则判断所述缺陷需要进行修补。

8.如权利要求6所述的缺陷检测方法，其特征在于：在根据所述位置座标资讯进行检测时，若所述缺陷在水平及垂直方向的长度值超过一预定的水平及垂直方向的最大长度值，则判断所述缺陷需要进行修补。

9.如权利要求6所述的缺陷检测方法，其特征在于：在所述缺陷根据所述缺陷资讯进行检测判断之后，将所述缺陷资讯储存在一缺陷资料库，并加以分析判断得到一检测等级，以供判断所述第一区域中的各缺陷是否分别需要进行修补，其中所述检测等级包含：报废、修补以及良好。

10.一种玻璃基板的缺陷检测方法，其特征在于：所述缺陷检测方法包含步骤：撷取一玻璃基板的一检测影像图，所述检测影像图显示所述玻璃基板上的多个缺陷，所述玻璃基板是一液晶显示器的一薄膜晶体管阵列基板；

将所述检测影像图区分成一第一区域及一第二区域，所述第一区域是所述玻璃基板中包含晶体管电路的电路区域，及所述第二区域是所述玻璃基板中的像素电极区域；

仅检测判断位于所述检测影像图的第一区域中的缺陷是否分别需要进行修补；以及

仅针对位于所述检测影像图的第一区域中且判断需要进行修补的缺陷进行修补动作。