[发明专利]一种数字集成电路测试总线接口

权利要求书

1.一种数字集成电路测试总线接口，其特征在于，包括：N个信号单元，所述N个信号单元构成矩阵，所述N为不小于30的正整数，其中：

所述N个信号单元中的每个信号单元均包括有呈2×2矩阵均匀分布的四个信号端，所述N个信号单元中包括有A个第一信号单元和B个第二信号单元，其中，所述A和所述B均为正整数，且所述A和所述B的和等于所述N，

所述第一信号单元中包括三个I/O信号端和一个电源信号端，

所述第二信号单元中包括三个I/O信号端和一个地信号端，

其中，所述第一信号单元中电源信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置和所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置相同，所述第一信号单元中电源信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置和所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置不同，

在所述N个信号单元构成的矩阵中，将所述N个信号单元中的每个信号单元均作为所述矩阵中的元素时，每一列的信号单元均为所述第一信号单元或均为所述第二信号单元，每一行的信号单元均由所述第一信号单元和所述第二信号单元交替排列组成。

2.一种数字集成电路测试总线接口，其特征在于，包括：N个信号单元，所述N个信号单元构成矩阵，所述N为不小于30的正整数，其中：

所述N个信号单元中的每个信号单元均包括有呈2×2矩阵均匀分布的四个信号端，所述N个信号单元中包括有A个第一信号单元、B个第二信号单元和C个第三信号单元，其中所述A、所述B和所述C均为正整数，且所述A、所述B和所述C的和等于所述N，

所述第一信号单元中包括三个I/O信号端和一个电源信号端，

所述第二信号单元中包括三个I/O信号端和一个地信号端，

所述第三信号单元中包括三个I/O信号端和一个地信号端，

其中，所述第一信号单元中电源信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置和所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置相同，所述第一信号单元中电源信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置和所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置不同，

所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置和所述第三信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置相同，所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置和所述第三信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置不同，

在所述N个信号单元构成的矩阵中，将所述N个信号单元中的每个信号单元均作为所述矩阵中的元素时，在所述矩阵中有m行n列的情况下，

在所述矩阵中左侧的m行a列中，每一列的信号单元均为所述第一信号单元或均为所述第二信号单元，每一行的信号单元均由所述第一信号单元和所述第二信号单元交替排列组成，

在所述矩阵中右侧的m行b列中，每一列的信号单元均为所述第一信号单元或均为所述第二信号单元，每一行的信号单元均由所述第一信号单元和所述第二信号单元交替排列组成，

在所述矩阵中间的m行（n-a-b）列中，每一列的信号单元均为所述第二信号单元或均为所述第三信号单元，每一行的信号单元均由所述第二信号单元和所述第三信号单元交替排列组成，所述（n-a-b）为正整数，

其中，所述m、所述n、所述a和所述b均为正整数。

3.根据权利要求2所述的总线接口，其特征在于，所述m行a列中所述第一信号单元中的电源信号端和所述m行b列中所述第一信号单元中的电源信号端所接的电源为不同的电源。